[發(fā)明專利]用于封裝級(jí)可靠性測(cè)試的靜電防護(hù)電路和測(cè)試安裝方法有效
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 201610949909.0 | 申請(qǐng)日： | 2016-10-26 |
| 公開(kāi)（公告）號(hào)： | CN106549006B | 公開(kāi)（公告）日： | 2019-12-24 |
| 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人： | 鄭輝;尹彬鋒;周柯 | 申請(qǐng)（專利權(quán)）人： | 上海華力微電子有限公司 |
| 主分類號(hào)： | H01L23/60 | 分類號(hào)： | H01L23/60;H01L21/66 |
| 代理公司： | 31237 上海思微知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理事務(wù)所(普通合伙) | 代理人： | 智云 |
| 地址： | 201203 上海市*** | 國(guó)省代碼： | 上海;31 |
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| 摘要： | |||
| 搜索關(guān)鍵詞： | 用于 封裝 可靠性 測(cè)試 靜電 防護(hù) 電路 安裝 方法 | ||
【權(quán)利要求書(shū)】：
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- 軟件測(cè)試系統(tǒng)及測(cè)試方法
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