[發(fā)明專利]光學玻璃測量裝置及其測量方法

有效

• 申請?zhí)枺?/td>: 201610939532.0
• 申請日: 2016-10-25
• 公開（公告）號: CN106501184B
• 公開（公告）日: 2020-07-28
• 發(fā)明（設計）人: 馬志遠
• 申請（專利權）人: 成都光明光電股份有限公司
• 主分類號: G01N21/17
• 分類號: G01N21/17;G01N21/59
• 代理公司: 成都希盛知識產權代理有限公司 51226
• 代理人: 蒲敏

本發(fā)明提供一種高精度測量光學玻璃光吸收系數以及霧度的裝置及其方法。光學玻璃測量裝置，按光路依次包括：雙光源發(fā)生系統；雙光路系統；光電探測系統；數據處理系統。本發(fā)明采用分光光度雙光束同步測量原理，實現參考光和樣品透過光強度的同時測量，可以根本消除光功率漂移對測量穩(wěn)定性的影響，同時無需電動機構對樣品進行機械切換；具有400nm～700nm波段光吸收系數、1000nm～1100nm光吸收系數以及1000nm～1100nm霧度測量功能，易于測試操作，且具有較高的測試精度。

技術領域

本發(fā)明涉及一種光學玻璃的測量裝置，特別是涉及一種對光學玻璃的光吸收系數以及霧度的自動化測量裝置及其測量方法。

背景技術

光學玻璃的光吸收系數以及霧度是光學玻璃參數中的重要指標，而且近幾年來隨著紅外產品在安防、車載市場中的廣泛應用，紅外部分光吸收系數以及霧度指標顯得尤為重要。目前國內外只有可見光波段(400nm～700nm)的光吸收測定儀以及霧度測定儀，而且該測定儀結構簡單，采用單光路測試方法，光功率漂移等因素會嚴重影響測試精度，而對于紅外波段的光吸收以及霧度測試的相關方法還屬空白。

發(fā)明內容

本發(fā)明所要解決的技術問題是提供一種高精度測量光學玻璃光吸收系數以及霧度的裝置。

本發(fā)明還要提供上述測量裝置的測量方法。

本發(fā)明解決技術問題所采用的技術方案是：光學玻璃測量裝置，按光路依次包括：

雙光源發(fā)生系統：按光路依次包括高精度穩(wěn)定光源、準直鏡、濾光片和變徑光闌；或1000nm～1100nm激光器和偏振控制器；

雙光路系統：按光路依次包括光強衰減器、分光鏡、第一轉向鏡、分頻斬波器、第二轉向鏡、積分球、標準反射板和光陷阱，且在分頻斬波器和積分球之間還設置有待測樣品架；

光電探測系統：硒光電池探測器或銦砷化鎵探測器；

數據處理系統：按光路包括雙通道鎖相放大器和計算機。

進一步的，所述雙光源發(fā)生系統之間設置有光源切換器，所述雙光源發(fā)生系統按照測量不同波段的參數通過光源切換器切換。

進一步的，所述待測樣品架根據測試參數不同分為光吸收待測樣品架和霧度待測樣品架。

進一步的，所述光電探測系統根據測試波段不同，分別采用硒光電池探測器或銦砷化鎵探測器。

進一步的，所述光強衰減器使光強衰減至與所述硒光電池探測器或銦砷化鎵探測器匹配的照度。

進一步的，所述分頻斬波器為參考光和信號光加載不同特征頻率的交流調制。

進一步的，所述霧度待測樣品架設置在積分球前窗口處。

進一步的，所述標準反射板設置在積分球中心后側壁位置，向下滑動角度為1～10度。

進一步的，所述光陷阱緊挨積分球后側外壁，通過標準反射板進入光陷阱的入射光束在光陷阱內若干小棱鏡中多次折返，使光束延遲反射回積分球。

進一步的，所述硒光電池探測器和銦砷化鎵探測器鑲嵌在積分球底部窗口。

光學玻璃測量裝置的測量方法，當對待測樣品進行可見光波段光吸收系數測量時，該方法包括以下步驟：

1)量取待測樣品的長度L，關閉標準反射板，將待測樣品放置在光吸收待測樣品架上并置于光路中；

2)高精度穩(wěn)定光源經過準直鏡后，光束準直為一束平行光，經過濾光片濾光后，再通過變徑光闌調節(jié)光束出光孔徑，然后經過光強衰減器，使光強衰減至與硒光電池探測器匹配的照度；