[發(fā)明專利]一種光度學(xué)測(cè)試的光譜校正方法在審
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 201610937841.4 | 申請(qǐng)日： | 2016-10-25 |
| 公開（公告）號(hào)： | CN106546325A | 公開（公告）日： | 2017-03-29 |
| 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人： | 張瀟臨;劉木清;李默楠;胡曉劍 | 申請(qǐng)（專利權(quán)）人： | 復(fù)旦大學(xué) |
| 主分類號(hào)： | G01J1/02 | 分類號(hào)： | G01J1/02 |
| 代理公司： | 上海正旦專利代理有限公司31200 | 代理人： | 張磊 |
| 地址： | 200433 *** | 國(guó)省代碼： | 上海;31 |
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| 摘要： | |||
| 搜索關(guān)鍵詞： | 一種 光度學(xué) 測(cè)試 光譜 校正 方法 | ||
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- 測(cè)試方法及測(cè)試系統(tǒng)
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