[發(fā)明專利]微小力的動(dòng)態(tài)旋轉(zhuǎn)測量系統(tǒng)及測量與標(biāo)定方法有效
| 申請?zhí)枺?/td> | 201610928922.8 | 申請日: | 2016-10-31 |
| 公開(公告)號(hào): | CN107543636B | 公開(公告)日: | 2019-07-26 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 何世熠;夏彥;歐陽曉平;姜利祥;王三勝;韓然;歐學(xué)東;沈自才 | 申請(專利權(quán))人: | 北京衛(wèi)星環(huán)境工程研究所 |
| 主分類號(hào): | G01L1/08 | 分類號(hào): | G01L1/08;G01L25/00 |
| 代理公司: | 暫無信息 | 代理人: | 暫無信息 |
| 地址: | 100094 *** | 國省代碼: | 北京;11 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 微小 動(dòng)態(tài) 旋轉(zhuǎn) 測量 系統(tǒng) 標(biāo)定 方法 | ||
本發(fā)明公開了一種微小力的測量與標(biāo)定方法,基于低溫超導(dǎo)微小力動(dòng)態(tài)旋轉(zhuǎn)測量系統(tǒng)。該配套系統(tǒng)包括環(huán)狀超導(dǎo)導(dǎo)軌,硬磁轉(zhuǎn)子,硬磁轉(zhuǎn)子支撐在超導(dǎo)導(dǎo)軌上;轉(zhuǎn)子由轉(zhuǎn)軸、轉(zhuǎn)子支架、葉片構(gòu)成,轉(zhuǎn)軸沿周向均勻開有通孔供轉(zhuǎn)子支架一端徑向插入,轉(zhuǎn)子支架另一端設(shè)置有葉片,葉片為矩形網(wǎng)狀薄板,每片葉片上附著所需測量的持續(xù)力,并在葉片下方角落處附著一小塊反光片用以測量。本發(fā)明突破了微小力測量領(lǐng)域?qū)τ谖㈦娮訉W(xué)系統(tǒng)及其精度的依賴,利用力在時(shí)間上的積分效應(yīng),更加形象和直觀的測量并展示了待測微小力的精確數(shù)值,精度可達(dá)10?9N,且在測量過程中實(shí)現(xiàn)了可視化效果,能夠更好的監(jiān)測評(píng)判測試過程。
技術(shù)領(lǐng)域
本發(fā)明涉及一種微小力的測量與標(biāo)定的方法,特別是針對(duì)低阻力旋轉(zhuǎn)系統(tǒng)的微小力測量與標(biāo)定的方法。
背景技術(shù)
微小力測量指針對(duì)10-5N以下的力進(jìn)行精確的測量,其在納米技術(shù)、微納制造、生物醫(yī)學(xué)、航天微推進(jìn)器等高新領(lǐng)域的發(fā)展中,有著廣闊的應(yīng)用前景和不可動(dòng)搖的實(shí)踐地位。
文獻(xiàn)“D.B.Newell,J.R.Pratt,J.A.Kramar,D.T.Smith and E.R.Williams.TheNIST Microforce Realization and Measurement Project[J].IEEE Transactions onInstrumentation and Measurement,2003,52(2):508-511.”公開了美國國家標(biāo)準(zhǔn)技術(shù)研究所基于靜電復(fù)現(xiàn)原理設(shè)計(jì)的靜電力天平及其配套的測量方法。它實(shí)現(xiàn)了對(duì)大小在10-8N~10-4N范圍內(nèi)的力的測量,相對(duì)誤差約為10-4量級(jí)。英國國家物理實(shí)驗(yàn)室利用靜電平衡同樣研制了一套微小力測量系統(tǒng)及其配套的測量方法,測量范圍為10-9N~10-6N,分辨率達(dá)到了5×10-11N。更進(jìn)一步,文獻(xiàn)“Christian Schlegel,Oliver Slanina,Günther Haucke,RolfKumme.Construction of a standard force machine for the range of 100μN(yùn)-200mN[J].Measurement,2012:1-5.”公開了德國國家物理實(shí)驗(yàn)室基于導(dǎo)電圓盤擺和一對(duì)平行極板研制出的一種電磁力平衡裝置,利用其配套的測量方法可測量10-5N以下的靜態(tài)力且分辨率為10-12N。
在微小力測量方面,國內(nèi)尚處于初級(jí)探索階段。例如文獻(xiàn)“于鵬,董再勵(lì)等.亞微牛頓級(jí)力測量裝置:中國,201096557Y[P].2008-08-06.”所公開的中國科學(xué)院沈陽自動(dòng)化研究所基于PVDF壓電材料實(shí)現(xiàn)的3×10-6N范圍內(nèi)精度達(dá)2×10-7N的靜力測量系統(tǒng),以及文獻(xiàn)“秦海峰,劉永錄.微小力值測量裝置:中國,201477009U[P].2012-05-19.”公開的中國科學(xué)院長春光機(jī)采用懸臂梁技術(shù),研制出的用以測量范圍在0-3.1×10-5N,分辨率為4.6×10-5N的微力傳感器都是國內(nèi)微小力探測方面的嘗試,但是基本都屬于微電系統(tǒng)應(yīng)用領(lǐng)域。
以上所述的技術(shù)方案均是利用復(fù)雜的微電系統(tǒng)和相關(guān)效應(yīng)對(duì)微小力進(jìn)行靜態(tài)測量,其發(fā)展和應(yīng)用依賴于微電子電路設(shè)計(jì)的穩(wěn)定性以及微電子產(chǎn)品的不斷更新。其中所涉及的方法與標(biāo)定,都是基于微電子電路的設(shè)計(jì)與組合。隨著微電子產(chǎn)業(yè)的不斷發(fā)展,相關(guān)的技術(shù)方案均會(huì)越發(fā)成熟,但是與此同時(shí)會(huì)出現(xiàn)邊際效應(yīng),其進(jìn)步將越來越大地受限于微電子學(xué)的應(yīng)用極限。因此,從其他領(lǐng)域?qū)ξ⑿×y量進(jìn)行技術(shù)方案創(chuàng)新與構(gòu)造是必要的,這不僅能夠豐富測量標(biāo)定手段,還可以將二者進(jìn)行對(duì)比與參考,得到更加先進(jìn)、更加精確的方法和結(jié)果。
發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明的目的是針對(duì)現(xiàn)有靜態(tài)測量技術(shù)的不足與偏頗,提供一種不以微電子學(xué)科為背景的,基于低阻力旋轉(zhuǎn)系統(tǒng)的微小力動(dòng)態(tài)測量系統(tǒng)及其測量方法與標(biāo)定方法。
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