[發(fā)明專利]用于傳感器數(shù)據(jù)校準的方法和裝置在審
| 申請?zhí)枺?/td> | 201610926545.4 | 申請日: | 2016-10-31 |
| 公開(公告)號: | CN108020800A | 公開(公告)日: | 2018-05-11 |
| 發(fā)明(設計)人: | 王萌;喬智勇;劉賀飛 | 申請(專利權)人: | 佳能株式會社 |
| 主分類號: | G01R35/00 | 分類號: | G01R35/00 |
| 代理公司: | 北京怡豐知識產(chǎn)權代理有限公司 11293 | 代理人: | 遲軍 |
| 地址: | 日本東京都*** | 國省代碼: | 暫無信息 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 用于 傳感器 數(shù)據(jù) 校準 方法 裝置 | ||
1.一種用于傳感器數(shù)據(jù)校準的方法,所述方法包括:
傳感器數(shù)據(jù)獲得步驟,用于獲得來自磁力計的傳感器數(shù)據(jù);
磁環(huán)境改變檢測步驟,用于通過比較由傳感器數(shù)據(jù)生成的至少兩個數(shù)據(jù)組之間的差,來檢測磁環(huán)境改變;
傳感器數(shù)據(jù)選擇步驟,用于基于磁環(huán)境改變檢測,選擇針對當前磁環(huán)境的傳感器數(shù)據(jù);
校準參數(shù)計算步驟,用于基于所選擇的針對當前磁環(huán)境的傳感器數(shù)據(jù),計算校準參數(shù);
傳感器數(shù)據(jù)校準步驟,用于利用校準參數(shù)對所選擇的傳感器數(shù)據(jù)進行校準。
2.根據(jù)權利要求1所述的方法,其中,所述磁環(huán)境改變檢測步驟包括:
針對各個數(shù)據(jù)組計算系數(shù)集合;
計算系數(shù)集合之間的差;
將所述差與預定義閾值進行比較以確定磁環(huán)境改變。
3.根據(jù)權利要求2所述的方法,其中,利用曲線擬合方法來計算所述系數(shù)集合。
4.根據(jù)權利要求2所述的方法,其中,所述系數(shù)集合至少包括數(shù)據(jù)組的中心、半徑或轉(zhuǎn)動角度。
5.根據(jù)權利要求4所述的方法,其中,所述系數(shù)集合之間的差是以下項目中的至少一者:
a)中心的差;
b)半徑的差;
c)轉(zhuǎn)動角度的差。
6.根據(jù)權利要求5所述的方法,其中,所述中心的差是由數(shù)據(jù)組的所有中心計算出的中心、與數(shù)據(jù)組的各個中心之間的距離。
7.根據(jù)權利要求5所述的方法,其中,所述中心的差是數(shù)據(jù)組的各個中心之間的距離。
8.根據(jù)權利要求5所述的方法,其中,所述半徑的差是數(shù)據(jù)組的半徑的方差或標準偏差。
9.根據(jù)權利要求5所述的方法,其中,所述轉(zhuǎn)動角度的差是數(shù)據(jù)組的轉(zhuǎn)動角度的方差或標準偏差。
10.根據(jù)權利要求1所述的方法,其中,所述傳感器數(shù)據(jù)選擇步驟包括:
回溯步驟,用于回溯當前傳感器數(shù)據(jù),以尋找針對當前環(huán)境的校準數(shù)據(jù)。
11.根據(jù)權利要求10所述的方法,其中,所述回溯步驟包括:
從當前磁環(huán)境選擇最新傳感器數(shù)據(jù)的一部分作為保留數(shù)據(jù);
從保留數(shù)據(jù)去除最舊的數(shù)據(jù);
利用保留數(shù)據(jù)檢測磁環(huán)境改變;
在磁環(huán)境無改變的情況下,選擇保留數(shù)據(jù)作為當前磁環(huán)境中的校準數(shù)據(jù)。
12.根據(jù)權利要求10所述的方法,其中,所述傳感器數(shù)據(jù)選擇步驟還包括:
傳感器數(shù)據(jù)收集步驟,用于收集多于預定義數(shù)量的、用于計算校準參數(shù)的校準數(shù)據(jù)。
13.一種用于傳感器數(shù)據(jù)校準的裝置,所述裝置包括:
獲得單元,其被構造為獲得來自磁力計的傳感器數(shù)據(jù);
磁環(huán)境改變檢測單元,其被構造為通過比較由傳感器數(shù)據(jù)生成的至少兩個數(shù)據(jù)組之間的差,來檢測磁環(huán)境改變;
傳感器數(shù)據(jù)選擇單元,其被構造為基于磁環(huán)境改變檢測,選擇針對當前磁環(huán)境的傳感器數(shù)據(jù);
校準參數(shù)計算單元,其被構造為基于所選擇的針對當前磁環(huán)境的傳感器數(shù)據(jù),計算校準參數(shù);
傳感器數(shù)據(jù)校準單元,其被構造為利用校準參數(shù)對所選擇的傳感器數(shù)據(jù)進行校準。
14.根據(jù)權利要求13所述的裝置,其中,所述磁環(huán)境改變檢測單元包括:
被構造為針對各個數(shù)據(jù)組計算系數(shù)集合的單元;
被構造為計算系數(shù)集合之間的差的單元;
被構造為將所述差與預定義閾值進行比較以確定磁環(huán)境改變的單元。
15.根據(jù)權利要求14所述的裝置,其中,所述系數(shù)集合至少包括數(shù)據(jù)組的中心、半徑或轉(zhuǎn)動角度。
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