[發(fā)明專利]一種MIPI回路的測試方法及測試系統(tǒng)

有效

• 申請?zhí)枺?/td>: 201610920767.5
• 申請日: 2016-10-21
• 公開（公告）號: CN107977290B
• 公開（公告）日: 2021-03-05
• 發(fā)明（設(shè)計）人: 耿阿囡
• 申請（專利權(quán)）人: 炬芯科技股份有限公司
• 主分類號: G06F11/22
• 分類號: G06F11/22
• 代理公司: 北京同達(dá)信恒知識產(chǎn)權(quán)代理有限公司 11291
• 代理人: 朱佳

本發(fā)明公開了一種MIPI回路的測試方法及測試系統(tǒng)，用于降低測試成本、提高測試效率。該方法為：第一測試端通過預(yù)留的配置端口，基于數(shù)據(jù)類型信息和第二協(xié)議信息，將預(yù)設(shè)測試數(shù)據(jù)配置成測試數(shù)據(jù)包，并通過預(yù)選MIPI通道信息對應(yīng)的MIPI通道，按照預(yù)選測試速率，將測試數(shù)據(jù)包發(fā)送至第二測試端；指示端基于測試數(shù)據(jù)包的接收情況、解析情況和匹配情況，判斷MIPI回路是否存在異常。這樣，實現(xiàn)了第一測試端和第二測試端的對接測試，無需外接轉(zhuǎn)換芯片，節(jié)省了MIPI回路測試成本，提高了MIPI回路測試準(zhǔn)確度。

技術(shù)領(lǐng)域

本發(fā)明涉及多媒體芯片技術(shù)領(lǐng)域，尤其涉及一種MIPI回路的測試方法及測試系統(tǒng)。

背景技術(shù)

目前，大多數(shù)便攜式多媒體芯片系統(tǒng)(System on a Chip，SOC)中，均包含顯示串行接口(Display Serial Interface，DSI)傳輸端和/或相機串行接口(Camera SerialInterface-2，CSI-2)接收端。其中，MIPI DSI傳輸端用于驅(qū)動DSI顯示屏，MIPI CSI-2接收端用于連接相機Camera。雖然，MIPI DSI傳輸端采用的DSI協(xié)議和MIPI CSI-2接收端采用的CSI-2協(xié)議均屬于移動產(chǎn)業(yè)處理器接口(Mobile Industry Processor Interface，MIPI)協(xié)議，且MIPI DSI傳輸端和MIPI CSI-2接收端采用的物理層(Physical Layer，D-PHY)標(biāo)準(zhǔn)相同，但是，由于MIPI DSI傳輸端采用的DSI協(xié)議和MIPI CSI-2接收端采用的CSI-2協(xié)議存在一定的區(qū)別，MIPI CSI-2接收端無法接收MIPI DSI傳輸端發(fā)送的高速數(shù)據(jù)，所以，在對SOC進(jìn)行測試時，MIPI DSI傳輸端和MIPI CSI-2接收端不能直接進(jìn)行對接測試，只能對MIPIDSI傳輸端和MIPI CSI-2接收端進(jìn)行分別測試。

現(xiàn)有技術(shù)中，通常利用外接轉(zhuǎn)換芯片，分別對MIPI DSI傳輸端和MIPI CSI-2接收端進(jìn)行測試。即在對MIPI DSI傳輸端進(jìn)行測試時，通常采用的方法是：先通過外接轉(zhuǎn)換芯片，將MIPI DSI傳輸端輸出的信號轉(zhuǎn)換成RGB信號等，再通過現(xiàn)場可編程邏輯門陣列(FieldProgrammable Gate Array，F(xiàn)PGA)等進(jìn)行接收，最后，再通過比對發(fā)送數(shù)據(jù)和接收數(shù)據(jù)的方式，來判斷MIPI DSI傳輸端中的傳輸通道是否存在正常；在對MIPI CSI-2接收端進(jìn)行測試時，通常采用的方法是：先通過外接轉(zhuǎn)換芯片，將高速數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)換成CSI-2信號，再經(jīng)過MIPICSI-2接收端進(jìn)行接收，最后，再通過比對發(fā)送數(shù)據(jù)和接收數(shù)據(jù)的方式，來判斷MIPI CSI-2接收端中的傳輸通道是否存在正常。

基于上述分析，目前的SOC數(shù)據(jù)通道測試方案均需要采用外接轉(zhuǎn)換芯片才能實現(xiàn)測試，不僅測試成本較高，而且，由于每條數(shù)據(jù)通道的傳輸速率在80Mbps到1Gbps，D-PHY V1.1版本的傳輸速率已將其提升到1.5Gbps，所以，上述利用外接轉(zhuǎn)換芯片進(jìn)行測試的測試方案會由于外接轉(zhuǎn)換芯片和FPGA性能的限制，導(dǎo)致測試效果較差，比如：當(dāng)外接轉(zhuǎn)換芯片和FPGA的性能較低時，可能測試不到最大工作場合。除此之外，由于數(shù)據(jù)通道一般有1到N條(N一般為4)，且存在多種數(shù)據(jù)的傳輸格式，所以，利用外接轉(zhuǎn)換芯片進(jìn)行測試時，并不能靈活的測試不同的應(yīng)用場景。也就是說，現(xiàn)有技術(shù)中的SOC測試方法存在測試成本高、測試效果差、靈活性差的問題。

發(fā)明內(nèi)容

本發(fā)明實施例提供了一種MIPI回路的測試方法及測試系統(tǒng)，用以解決現(xiàn)有技術(shù)中的MIPI回路測試方法存在測試成本高、測試效果差和靈活性差的問題。

本發(fā)明實施例提供的具體技術(shù)方案如下：

一種MIPI回路的測試方法，用于在不外接轉(zhuǎn)換芯片的情況下，對支持第一協(xié)議的第一測試端和支持第二協(xié)議的第二測試端進(jìn)行MIPI回路測試，其中，上述第一協(xié)議和上述第二協(xié)議是具有相同物理層協(xié)議的不同協(xié)議，上述測試方法包括：

第一測試端接收以測試指令形式發(fā)送的預(yù)選數(shù)據(jù)格式對應(yīng)的數(shù)據(jù)類型信息、第二協(xié)議信息、預(yù)選MIPI通道信息和預(yù)選測試速率；