[發明專利]一種雙針式光敏電阻檢測機構有效
| 申請號： | 201610920658.3 | 申請日： | 2016-10-12 |
| 公開（公告）號： | CN106370957B | 公開（公告）日： | 2018-10-26 |
| 發明（設計）人： | 陳子立 | 申請（專利權）人： | 中國計量大學 |
| 主分類號： | G01R31/00 | 分類號： | G01R31/00;G01R27/02 |
| 代理公司： | 暫無信息 | 代理人： | 暫無信息 |
| 地址： | 310018 浙江省杭*** | 國省代碼： | 浙江;33 |
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| 摘要： | |||
| 搜索關鍵詞： | 一種 雙針式 光敏 電阻 檢測 機構 | ||
【權利要求書】：
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