[發明專利]一種全譜式直讀光譜儀的異常光譜剔除方法

有效

• 申請號: 201610913589.3
• 申請日: 2016-10-20
• 公開（公告）號: CN106500840B
• 公開（公告）日: 2018-08-14
• 發明（設計）人: 袁海軍;馬建州;廖波;顧德安
• 申請（專利權）人: 無錫創想分析儀器有限公司
• 主分類號: G01J3/28
• 分類號: G01J3/28;G01J3/02
• 代理公司: 總裝工程兵科研一所專利服務中心 32002
• 代理人: 楊立秋

1.一種全譜式直讀光譜儀的異常光譜剔除方法，其特征在于，所述方法用于單基體材料的分析，包括以下步驟：

光譜儀標定操作：在光譜儀標定過程中，激發樣品后，多次采集光譜，平均后作為當次分析的光譜，用于標定；

光譜儀的各個探測器設定3-5個像素位置，作為監控像素；

將監控像素的光強值記錄下來，組成一組向量，作為剔除異常光譜的監控光強向量；

設定位置校正參考光譜；

（5）根據計算機傳輸的激發參數和監控像素與光強，開始放電激發樣品并采集光譜，計算受控光強與監控光強相關系數并與閾值比較，進行異常光譜剔除，具體操作如下：

一、儀器根據激發參數激發樣品，分組火花個數為L，則每放電L次，采集一次數據，FPGA控制電路，將探測器接受的光電信號經由A/D轉換后成為數字信號，并讀入FPGA的內存中，得到一條光譜數據；

二、根據計算機傳輸的監控像素，獲取當前受控光強，計算監控光強和受控光強之間的相關系數，如果相關系數低于設定的閾值，則判斷該次采集的光譜異常，則該光譜數據直接拋棄，不計入有效光譜，同時異常光譜計數加1，否則該次光譜將與之前采集到的正常光譜值進行累加，同時正常光譜計數加1；

三、當分析階段完成時，正常光譜累加值除以正常光譜數，作為該次分析階段的光譜數據，傳輸到計算機，參與后續計算。

2.根據權利要求1所述的全譜式直讀光譜儀的異常光譜剔除方法，其特征在于，所述步驟（2）中取基體元素譜線對應的像素位置，組成一組向量，作為監控像素向量。