[發明專利]雙極型器件電離和位移輻射損傷缺陷辨別方法有效
| 申請號： | 201610911408.3 | 申請日： | 2016-10-19 |
| 公開（公告）號： | CN106353344B | 公開（公告）日： | 2019-09-13 |
| 發明（設計）人： | 李興冀;劉超銘;楊劍群;馬國亮 | 申請（專利權）人： | 哈爾濱工業大學 |
| 主分類號： | G01N23/00 | 分類號： | G01N23/00 |
| 代理公司： | 哈爾濱市松花江專利商標事務所 23109 | 代理人： | 岳昕 |
| 地址： | 150001 黑龍*** | 國省代碼： | 黑龍江;23 |
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| 摘要： | |||
| 搜索關鍵詞： | 雙極型 器件 電離 位移 輻射損傷 缺陷 辨別 方法 | ||
【說明書】：
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