[發明專利]一種信號相位差的檢測方法及系統

有效

• 申請號: 201610907926.8
• 申請日: 2016-10-18
• 公開（公告）號: CN106645952B
• 公開（公告）日: 2019-06-25
• 發明（設計）人: 丁毅嶺;李國宏
• 申請（專利權）人: 上海華虹計通智能系統股份有限公司
• 主分類號: G01R25/08
• 分類號: G01R25/08
• 代理公司: 上海碩力知識產權代理事務所(普通合伙) 31251
• 代理人: 郭桂峰

1.一種信號相位差的檢測方法，其特征在于，包括：

步驟S100獲取待檢測信號及頻率相同且具有基準相位的基準信號，并根據所述待檢測信號的信號頻率結合所需的檢測精度信息獲取總采樣次數；

步驟S200將所述基準信號與所述待檢測信號組合成為與所述信號頻率相同的待檢相差信號；

步驟S300根據所述信號頻率獲取所述待檢相差信號的脈寬個數信息；

步驟S310根據所述所需的檢測精度信息獲取檢測頻率，并根據所述檢測頻率生成檢測方波信號；

其中，所述檢測頻率為高于所述信號頻率的檢測高頻率或低于所述信號頻率的檢測低頻率；

步驟S320根據所述檢測方波信號與所述待檢相差信號進行比對；

步驟S330根據所述步驟S320比對的結果對所述待檢相差信號的脈寬個數進行檢測；

步驟340根據所述檢測方波信號的檢測頻率獲取所述步驟S330檢測并累加的所述待檢相差信號的脈寬個數；

步驟S400根據所述所需的檢測精度信息和所述脈寬個數信息獲取所述待檢測信號的相位差信息。

2.根據權利要求1所述的一種信號相位差的檢測方法，其特征在于，所述步驟S330包括：

步驟S331當所述檢測高頻率處于高電平時，檢測到所述待檢相差信號從下降沿至上升沿時進行一次累加；執行步驟S340。

3.根據權利要求1所述的一種信號相位差的檢測方法，其特征在于，所述步驟S330還包括：

步驟S332當所述檢測低頻率處于高電平時，檢測到所述待檢相差信號從上升沿至下降沿時進行一次累加；執行步驟S340。

4.根據權利要求1所述的一種信號相位差的檢測方法，其特征在于，所述步驟S200還包括：

步驟S210將所述基準信號與所述待檢測信號分別變換成同頻率的方波信號；

步驟S220將所述基準信號與所述待檢測信號分別變換后的同頻率的方波信號進行二分頻變換；

步驟S230進一步將二分頻后的所述基準信號與所述待檢測信號的方波信號進行異或運算得到與所述信號頻率相同的所述待檢相差信號。

5.根據權利要求1所述的一種信號相位差的檢測方法，其特征在于，所述總采樣次數的模型包括：

σ＝1/f0·10a

σ--所述待檢信號精度，f0--所述待檢測信號的信號頻率，

10a--所述總采樣次數。

6.根據權利要求1所述的一種信號相位差的檢測方法，其特征在于，所述檢測方波信號的檢測高頻率的模型包括：

f1＝(1+1/10a)f0，

f1--所述檢測方波信號的檢測高頻率。

7.根據權利要求1所述的一種信號相位差的檢測方法，其特征在于，所述檢測方波信號的檢測低頻率的模型包括：

f2＝(1-1/10a)f0，

f2--所述檢測方波信號的檢測低頻率。

8.根據權利要求1所述的一種信號相位差的檢測方法，其特征在于，所述待檢測信號的相位差信息的模型包括：

Δθ＝2π·N(1)/10a，

N(1)--所述待檢相差信號的脈寬個數信息，

Δθ--所述待檢測信號的相位差。

9.一種同頻信號的相位差的檢測系統，可執行權利要求1-8任一所述的一種信號相位差的檢測方法，其特征在于，包括：

總采樣次數獲取模塊，獲取與待檢測信號及頻率相同且具有基準相位的基準信號，并根據所述待檢測信號的信號頻率結合所需的檢測精度信息獲取總采樣次數；

待檢測信號信息獲取模塊，與檢測精度獲取模塊電連接，將所述基準信號與所述待檢測信號組合成為與所述信號頻率相同的待檢相差信號；

待檢測脈寬統計模塊，與所述待檢測信號信息獲取模塊電連接，根據所述信號頻率獲取所述待檢相差信號的脈寬個數信息；

相位差信息獲取模塊，與所述待檢測脈寬統計模塊電連接，根據所需的檢測精度信息和所述脈寬個數信息獲取所述待檢測信號的相位差信息。