[發明專利]一種基于天線方向圖修正計算目標RCS的方法

有效

• 申請號: 201610903006.9
• 申請日: 2016-10-17
• 公開（公告）號: CN106526562B
• 公開（公告）日: 2019-01-11
• 發明（設計）人: 胡楚鋒;徐志浩;陳衛軍;張麟兮
• 申請（專利權）人: 西北工業大學
• 主分類號: G01S7/41
• 分類號: G01S7/41
• 代理公司: 西北工業大學專利中心 61204
• 代理人: 常威威

1.一種基于天線方向圖修正計算目標RCS的方法，其特征在于步驟如下：

步驟一：確定近似的天線方向圖：

在天線照射目標角域內，利用三角函數10^{A·((B*cos(Cψ)-B)/10)}對測試天線的方向圖函數進行近似，通過改變A、B、C的值得到近似的天線方向圖函數A(ψ)，滿足近似誤差小于0.5dB；其中，ψ為天線到目標上任意一點與天線最大輻射方向的夾角；

步驟二：構建預處理數據：

首先，在微波暗室中對目標進行單站轉臺測量，并考慮天線方向圖影響，得到目標的單站近場回波散射為：

其中，為以轉臺中心為原點的極坐標系下天線的轉角，k為波數，按k＝2πf/c計算，f為天線的測試頻率，c為光速，為目標區域的二維像，為目標上任意一點的極坐標，ρ′表示這個點到轉臺中心的距離，表示這個點在極坐標系下的角度，為天線到點的距離，ρ₀為天線到轉臺中心的距離；

然后，按下式構建目標的預處理數據為：

其中，表示成像距離，Δf是轉臺測量的步進頻率；

步驟三：計算單站遠場散射方向圖：

根據目標的預處理數據，按下式計算目標的單站遠場散射方向圖為：

其中，N≥2ka_ant+10，為目標單站模式下的截取范圍，a_ant為柱坐標下包圍目標的最小半徑，P_n(2kρ₀)為天線的響應恒量，按計算，M≥2ka_ant，為第一類n+m階漢克爾函數，T是近似天線方向圖函數A(ψ)的周期；

步驟四：計算定標體的單站遠場散射方向圖：以定標體為目標，重復步驟二和三，計算得到定標體的單站遠場散射方向圖

步驟五：計算目標的RCS：

根據目標和定標體的單站遠場散射方向圖，由下式定標計算得到目標的RCS：

其中，σ為目標的RCS，σ₀為定標體的RCS。