[發明專利]顯示裝置有效
| 申請號: | 201610899208.0 | 申請日: | 2016-10-14 |
| 公開(公告)號: | CN106933435B | 公開(公告)日: | 2021-11-30 |
| 發明(設計)人: | 倉澤隼人;水橋比呂志 | 申請(專利權)人: | 株式會社日本顯示器 |
| 主分類號: | G06F3/046 | 分類號: | G06F3/046;G02F1/1333 |
| 代理公司: | 北京康信知識產權代理有限責任公司 11240 | 代理人: | 田喜慶;吳孟秋 |
| 地址: | 日本*** | 國省代碼: | 暫無信息 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 顯示裝置 | ||
1.一種顯示裝置,包括:
第一基板;
第二基板,與所述第一基板相對;
多個公共電極,配置于所述第一基板,并沿第一方向延伸;
像素陣列,具有配置于所述第一基板、且以與多個所述公共電極中相對應公共電極相對的方式配置的多個像素電極;
多條信號線,配置于所述像素陣列的各列,并向配置在對應的列上的所述多個像素電極供給圖像信號;
第一切換電路,配置于所述第一基板,并與多個所述公共電極結合,在使用磁場來檢測外部接近物體的檢測期間,連接至少2個公共電極之間,從而形成第一線圈;
驅動電路,在所述檢測期間,將磁場驅動信號供給至所述第一線圈,以產生磁場;以及
檢測電路,形成于所述第二基板,與第二線圈結合,所述第二線圈在與所述第一方向交叉的第二方向上延伸,
多個所述公共電極在所述像素陣列中以彼此平行的方式而配置,在顯示期間,向多個所述公共電極供給與所述磁場驅動信號不同的顯示驅動信號,
在處于所述檢測期間時,通過所述第二線圈來檢測來自所述外部接近物體的磁場。
2.根據權利要求1所述的顯示裝置,其中,
在所述檢測期間,至少2個所述公共電極通過所述第一切換電路而彼此電連接,以使在所述驅動電路與第一電壓之間形成所述第一線圈,
在所述檢測期間,所述第二線圈在所述檢測電路與第二電壓之間彼此電連接。
3.根據權利要求2所述的顯示裝置,其中,
所述第一切換電路根據是使用磁場來檢測外部接近物體還是使用電場來檢測外部接近物體而切換所述第一線圈與所述第一電壓之間的連接,
所述顯示裝置還包括第二切換電路,所述第二切換電路根據是使用磁場來檢測外部接近物體還是使用電場來檢測外部接近物體而切換所述第二線圈與所述第二電壓之間的連接,
當使用電場來檢測外部接近物體時,所述第一切換電路將所述第一線圈與所述第一電壓電氣分離,當使用電場來檢測外部接近物體時,所述第二切換電路將所述第二線圈與所述第二電壓電氣分離,
當使用電場來檢測外部接近物體時,電場驅動信號被供給至所述公共電極,并通過所述檢測電路檢測在構成所述第二線圈的布線中的信號變化。
4.一種顯示裝置,包括:
像素陣列,具有配置為矩陣狀的多個像素;
多條信號線,配置于所述像素陣列的各列,并向配置在對應的列上的所述多個像素供給圖像信號;
多個驅動電極,在所述像素陣列中以彼此平行的方式而配置,當進行圖像顯示時,向所述多個像素供給驅動信號,
第一基板,具有配置有所述多條信號線與所述多個驅動電極的第一主面;
第二基板,與所述第一基板分開,并具有第一主面和配置為與所述第一基板的第一主面相對的第二主面;
第一布線,配置于所述第二基板的第一主面上;
驅動電路,當檢測外部接近物體時,輸出驅動信號;以及
檢測電路,當檢測外部接近物體時,檢測信號變化,
當使用磁場來檢測外部接近物體時,使磁場產生的磁場驅動信號被供給至配置于所述像素陣列中的第二布線,并通過在俯視觀察中與所述第二布線交叉的第一布線來檢測來自外部接近物體的磁場,
配置在所述第一基板上的布線作為所述第二布線,當使用磁場來檢測外部接近物體時,使磁場產生的驅動信號從所述驅動電路供給到所述第二布線,并通過所述檢測電路檢測所述第一布線中的信號變化,
當使用電場來檢測外部接近物體時,使電場產生的驅動信號從所述驅動電路供給到所述第二布線,并通過所述檢測電路檢測所述第一布線中的信號變化。
5.根據權利要求4所述的顯示裝置,其中,
所述多個驅動電極配置在所述像素陣列的行上,
所述第二布線由驅動電極構成,所述第一布線由信號線構成。
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