[發明專利]一種低溫下光學材料折射率的測量方法有效
| 申請號： | 201610899039.0 | 申請日： | 2016-10-14 |
| 公開（公告）號： | CN106546560B | 公開（公告）日： | 2019-11-22 |
| 發明（設計）人： | 智喜洋;胡建明;王達偉 | 申請（專利權）人： | 浙江榮智博智能科技有限公司 |
| 主分類號： | G01N21/41 | 分類號： | G01N21/41 |
| 代理公司： | 33256 浙江杭知橋律師事務所 | 代理人： | 王梨華;陳麗霞<國際申請>=<國際公布> |
| 地址： | 311100 浙江省杭州市*** | 國省代碼： | 浙江;33 |
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| 摘要： | |||
| 搜索關鍵詞： | 一種 低溫 光學材料 折射率 測量方法 | ||
【權利要求書】：
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