[發明專利]用于探測至少一個發光二極管的缺陷的診斷裝置和方法

有效

• 申請號: 201610898058.1
• 申請日: 2016-10-14
• 公開（公告）號: CN106993351B
• 公開（公告）日: 2019-07-16
• 發明（設計）人: W.克爾納;M.奧斯迪厄;P.布賴卡
• 申請（專利權）人: 大陸汽車有限公司
• 主分類號: H05B33/08
• 分類號: H05B33/08;B60Q11/00
• 代理公司: 中國專利代理(香港)有限公司 72001
• 代理人: 周志明;安文森

1.一種用于探測多個發光二極管（6）中的至少一個發光二極管的缺陷的診斷裝置（8），所述多個發光二極管連接成一個發光二極管列（5），該發光二極管列把第一供電接頭（4）與第二供電接頭（4）連接起來，其特征在于，給每個發光二極管（6）都并聯一個電阻元件（10），測量機構（11）被設計用來在無發光二極管（6）發光時所在的發光暫停中在兩個供電接頭（4）之間產生診斷電流（ID），通過該診斷電流在每個電阻元件（10）上都產生比正向偏壓（UF）小的電壓，并聯的相應發光二極管（6）從該正向偏壓起發光，并且測量機構被設計用來提供在供電接頭（4）之間下降的診斷電壓（U）的電壓值（19），分析機構（16）被設計用來根據診斷電流（ID）的電流強度值（20）和診斷電壓（U）的電壓值（19），求取各電阻元件（10）和各發光二極管（6）在供電接頭（4）之間起作用的電阻的總電阻值，并根據該總電阻值產生故障信號（17、18），其中，在分析機構（16）中規定了多個無交疊的值間隔，分析機構（16）被設計用來根據總電阻值處于哪個值間隔來通過故障信號（17、18）通報有缺陷的發光二極管（6）的數量。

2.如權利要求1所述的診斷裝置（8），其中，各電阻元件（10）具有小于2%的誤差。

3.如權利要求1所述的診斷裝置（8），其中，每個電阻元件（10）的相應的電阻值（Ri）比并聯的發光二極管在其熔合短路的缺陷狀態下的相應的電阻值大至少10倍。

4.如權利要求1所述的診斷裝置（8），其中，各電阻元件（10）全部都具有相同的電阻值（Ri）。

5.如權利要求1~4中任一項所述的診斷裝置（8），其中，至少兩個電阻元件（10）具有不同的電阻值（Ri）。

6.如權利要求1所述的診斷裝置（8），其中，用來產生照明階段的工作電流（I）的電流源（7）被設計用于產生診斷電流（ID），發光二極管（6）在所述照明階段中發光。

7.如權利要求1所述的診斷裝置（8），具有用于產生在發光二極管（6）發光時所在的照明階段的工作電流（I）的電流源（7）和與其不同的用于產生診斷電流（ID）的電壓源（13）。

8.如權利要求7所述的診斷裝置（8），具有使得電流源（7）和電壓源（13）耦接的開關部件（15），其中，測量機構（11）被設計用于使得開關部件（15）在照明階段中保持在非接通的狀態下，而在照明暫停中則保持在接通的狀態下。

9.如權利要求6~8中任一項所述的診斷裝置（8），其中，診斷裝置（8）被設計用于在發光階段中探測在供電接頭（4）之間下降的工作電壓（U）的電壓突變，并且，如果電壓突變的量值大于預定的閾值，則產生失靈信號（18）。

10.如權利要求1所述的診斷裝置（8），其中，測量機構（11）被設計用來在診斷裝置（8）起動時在發光二極管（6）投入工作之前和/或在發光二極管（6）的PWM工作的PWM接通暫停期間產生診斷電流（ID）。

11.一種具有多個發光二極管（6）的照明裝置（1），所述多個發光二極管連接成一個發光二極管列（5），該發光二極管列把第一供電接頭（4）與第二供電接頭（4）連接起來，其中，該照明裝置（1）具有根據前述權利要求中任一項所述的診斷裝置（8）。

12.如權利要求11所述的照明裝置（1），其中，該照明裝置（1）被構造成汽車前照燈。

13.一種用于探測多個發光二極管（6）中的至少一個發光二極管的缺陷的方法，所述多個發光二極管連接成一個發光二極管列（5），該發光二極管列把第一供電接頭（4）與第二供電接頭（4）連接起來，其特征在于，給每個發光二極管（6）都并聯一個電阻元件（10），測量機構（11）在無發光二極管（6）發光時所在的發光暫停中在兩個供電接頭（4）之間產生診斷電流（ID），通過該診斷電流在每個電阻元件（10）上都產生比正向偏壓（UF）小的電壓，從該正向偏壓起，并聯的相應發光二極管（6）發光，并且所述測量機構（11）提供在供電接頭（4）之間下降的診斷電壓（U）的電壓值（19），分析機構（16）被設計用來根據診斷電流（ID）的電流強度值（20）和診斷電壓（U）的電壓值（19），求取各電阻元件（10）和各發光二極管（6）在供電接頭（4）之間起作用的電阻的總電阻值，并根據該總電阻值產生故障信號（17、18），其中，在分析機構（16）中規定了多個無交疊的值間隔，分析機構（16）被設計用來根據總電阻值處于哪個值間隔來通過故障信號（17、18）通報有缺陷的發光二極管（6）的數量。