[發(fā)明專利]一種OTP型MCU在未預(yù)留測(cè)試接口情況下的量產(chǎn)測(cè)試方法有效
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 201610891953.0 | 申請(qǐng)日： | 2016-10-13 |
| 公開(kāi)（公告）號(hào)： | CN106546902B | 公開(kāi)（公告）日： | 2019-09-10 |
| 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人： | 宋恩琳 | 申請(qǐng)（專利權(quán)）人： | 芯?？萍迹ㄉ钲冢┕煞萦邢薰?/a> |
| 主分類號(hào)： | G01R31/28 | 分類號(hào)： | G01R31/28 |
| 代理公司： | 深圳市凱達(dá)知識(shí)產(chǎn)權(quán)事務(wù)所 44256 | 代理人： | 劉大彎 |
| 地址： | 518067 廣東省深圳市南山*** | 國(guó)省代碼： | 廣東;44 |
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| 摘要： | |||
| 搜索關(guān)鍵詞： | 一種 otp mcu 預(yù)留 測(cè)試 接口 情況 量產(chǎn) 方法 | ||
【權(quán)利要求書(shū)】：
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G01 測(cè)量；測(cè)試
G01R 測(cè)量電變量；測(cè)量磁變量
G01R31-00 電性能的測(cè)試裝置；電故障的探測(cè)裝置；以所進(jìn)行的測(cè)試在其他位置未提供為特征的電測(cè)試裝置
G01R31-01 .對(duì)相似的物品依次進(jìn)行測(cè)試，例如在成批生產(chǎn)中的“過(guò)端—不過(guò)端”測(cè)試；測(cè)試對(duì)象多點(diǎn)通過(guò)測(cè)試站
G01R31-02 .對(duì)電設(shè)備、線路或元件進(jìn)行短路、斷路、泄漏或不正確連接的測(cè)試
G01R31-08 .探測(cè)電纜、傳輸線或網(wǎng)絡(luò)中的故障
G01R31-12 .測(cè)試介電強(qiáng)度或擊穿電壓
G01R31-24 .放電管的測(cè)試
G01R 測(cè)量電變量；測(cè)量磁變量
G01R31-00 電性能的測(cè)試裝置；電故障的探測(cè)裝置；以所進(jìn)行的測(cè)試在其他位置未提供為特征的電測(cè)試裝置
G01R31-01 .對(duì)相似的物品依次進(jìn)行測(cè)試，例如在成批生產(chǎn)中的“過(guò)端—不過(guò)端”測(cè)試；測(cè)試對(duì)象多點(diǎn)通過(guò)測(cè)試站
G01R31-02 .對(duì)電設(shè)備、線路或元件進(jìn)行短路、斷路、泄漏或不正確連接的測(cè)試
G01R31-08 .探測(cè)電纜、傳輸線或網(wǎng)絡(luò)中的故障
G01R31-12 .測(cè)試介電強(qiáng)度或擊穿電壓
G01R31-24 .放電管的測(cè)試
- 驗(yàn)證系統(tǒng)
- 具有多個(gè)邏輯元件的一次性可編程邏輯位
- 一種手機(jī)攝像頭OTP內(nèi)存分配、信息寫(xiě)入及讀取方法
- 晶圓級(jí)一次性編程O(píng)TP芯片測(cè)試方法及裝置
- 一種芯片內(nèi)嵌的OTP模塊的控制方法
- 支持登錄的飛鏢游戲服務(wù)器、飛鏢游戲裝置及記錄于可讀介質(zhì)的計(jì)算機(jī)程序
- 一種微控制器芯片的低功耗管理裝置
- 動(dòng)態(tài)口令生成方法和系統(tǒng)
- 一次性可編程存儲(chǔ)器單元及其存儲(chǔ)器和存儲(chǔ)器系統(tǒng)
- 具有改進(jìn)的可編程性的OTP存儲(chǔ)單元
- 軟件測(cè)試系統(tǒng)及測(cè)試方法
- 自動(dòng)化測(cè)試方法和裝置
- 一種應(yīng)用于視頻點(diǎn)播系統(tǒng)的測(cè)試裝置及測(cè)試方法
- Android設(shè)備的測(cè)試方法及系統(tǒng)
- 一種工廠測(cè)試方法、系統(tǒng)、測(cè)試終端及被測(cè)試終端
- 一種軟件測(cè)試的方法、裝置及電子設(shè)備
- 測(cè)試方法、測(cè)試裝置、測(cè)試設(shè)備及計(jì)算機(jī)可讀存儲(chǔ)介質(zhì)
- 測(cè)試裝置及測(cè)試系統(tǒng)
- 測(cè)試方法及測(cè)試系統(tǒng)
- 一種數(shù)控切削指令運(yùn)行軟件測(cè)試系統(tǒng)及方法
