[發(fā)明專利]應(yīng)用操作非易失性存儲器的性能測試數(shù)據(jù)處理方法和裝置

有效

• 申請?zhí)枺?/td>: 201610891321.4
• 申請日: 2016-10-12
• 公開（公告）號: CN107943676B
• 公開（公告）日: 2020-10-30
• 發(fā)明（設(shè)計）人: 丁鐸;黃聞欣
• 申請（專利權(quán)）人: 騰訊科技（深圳）有限公司
• 主分類號: G06F11/34
• 分類號: G06F11/34;G06F11/30
• 代理公司: 廣州華進聯(lián)合專利商標代理有限公司 44224
• 代理人: 何平;鄧云鵬

本發(fā)明涉及一種應(yīng)用操作非易失性存儲器的性能測試數(shù)據(jù)處理方法和裝置，該方法包括：掛鉤操作系統(tǒng)提供的用于操作非易失性存儲器的系統(tǒng)函數(shù)，使得系統(tǒng)函數(shù)由被測應(yīng)用輸入?yún)?shù)并調(diào)用時觸發(fā)對自定義函數(shù)的調(diào)用；通過自定義函數(shù)并根據(jù)參數(shù)操作非易失性存儲器；通過自定義函數(shù)采集操作非易失性存儲器所產(chǎn)生的性能測試數(shù)據(jù)，并將采集的性能測試數(shù)據(jù)記錄在日志文件中；日志文件中的性能測試數(shù)據(jù)用于據(jù)以分析被測應(yīng)用操作非易失性存儲器的性能指標。本發(fā)明提供的應(yīng)用操作非易失性存儲器的性能測試數(shù)據(jù)處理方法和裝置，日志中的性能測試數(shù)據(jù)可表達被測應(yīng)用操作非易失性存儲器的實際性能，可用于后續(xù)分析被測應(yīng)用操作所述非易失性存儲器的性能指標。

技術(shù)領(lǐng)域

本發(fā)明涉及非易失性存儲器測試技術(shù)領(lǐng)域，特別是涉及一種應(yīng)用操作非易失性存儲器的性能測試數(shù)據(jù)處理方法和裝置。

背景技術(shù)

目前通用的計算機結(jié)構(gòu)中，一般包括作為內(nèi)存儲器的易失性存儲器和作為外存儲器的非易失性存儲器。易失性存儲器可以暫時、高效地存儲數(shù)據(jù)，但數(shù)據(jù)最終需寫入非易失性存儲器中長期保存。非易失性存儲器通常包括磁存儲器和半導(dǎo)體存儲器，磁存儲器又可以包括磁芯存儲器、磁鼓存儲器和磁盤存儲器。

目前對非易失性存儲器的測試主要采用專用的測試工具單純測試非易失性存儲器的讀取和寫入速度等性能指標，難以反映應(yīng)用在操作非易失性存儲器時的實際性能。

發(fā)明內(nèi)容

基于此，有必要針對目前對非易失性存儲器的測試難以反映應(yīng)用實際操作非易失性存儲器的性能的問題，提供一種應(yīng)用操作非易失性存儲器的性能測試數(shù)據(jù)處理方法和裝置。

一種應(yīng)用操作非易失性存儲器的性能測試數(shù)據(jù)處理方法，包括：

掛鉤操作系統(tǒng)提供的用于操作非易失性存儲器的系統(tǒng)函數(shù)，使得所述系統(tǒng)函數(shù)由被測應(yīng)用輸入?yún)?shù)并調(diào)用時觸發(fā)對自定義函數(shù)的調(diào)用；

通過所述自定義函數(shù)并根據(jù)所述參數(shù)操作所述非易失性存儲器；

通過所述自定義函數(shù)采集操作所述非易失性存儲器所產(chǎn)生的性能測試數(shù)據(jù)，并將采集的性能測試數(shù)據(jù)記錄在日志文件中；所述日志文件中的性能測試數(shù)據(jù)用于據(jù)以分析所述被測應(yīng)用操作所述非易失性存儲器的性能指標。

一種應(yīng)用操作非易失性存儲器的性能測試數(shù)據(jù)處理裝置，包括：

掛鉤模塊，用于掛鉤操作系統(tǒng)提供的用于操作非易失性存儲器的系統(tǒng)函數(shù)，使得所述系統(tǒng)函數(shù)由被測應(yīng)用輸入?yún)?shù)并調(diào)用時觸發(fā)對自定義函數(shù)的調(diào)用；

自定義函數(shù)執(zhí)行模塊，用于通過所述自定義函數(shù)并根據(jù)所述參數(shù)操作所述非易失性存儲器；通過所述自定義函數(shù)采集操作所述非易失性存儲器所產(chǎn)生的性能測試數(shù)據(jù)，并將采集的性能測試數(shù)據(jù)記錄在日志文件中；所述日志文件中的性能測試數(shù)據(jù)用于據(jù)以分析所述被測應(yīng)用操作所述非易失性存儲器的性能指標。

上述應(yīng)用操作非易失性存儲器的性能測試數(shù)據(jù)處理方法和裝置，掛鉤用于操作非易失性存儲器的系統(tǒng)函數(shù)，系統(tǒng)函數(shù)被被測應(yīng)用調(diào)用時能夠回調(diào)自定義函數(shù)，從而通過自定義函數(shù)操作非易失性存儲器，并將操作產(chǎn)生的性能測試數(shù)據(jù)記錄在日志文件中，該日志文件中的性能測試數(shù)據(jù)可用來分析被測應(yīng)用操作所述非易失性存儲器的性能指標。被測應(yīng)用在運行過程中，若操作了非易失性存儲介質(zhì)，產(chǎn)生的相應(yīng)性能測試數(shù)據(jù)會被記錄在日志中，該日志中的性能測試數(shù)據(jù)可表達被測應(yīng)用操作非易失性存儲器的實際性能，可用于后續(xù)分析被測應(yīng)用操作所述非易失性存儲器的性能指標。

附圖說明

圖1為一個實施例中應(yīng)用操作非易失性存儲器性能測試系統(tǒng)的應(yīng)用環(huán)境圖；

圖2為一個實施例中可用作終端和服務(wù)器的電子設(shè)備的內(nèi)部結(jié)構(gòu)示意圖；

圖3為一個實施例中應(yīng)用操作非易失性存儲器的性能測試數(shù)據(jù)處理方法的流程示意圖；