[發明專利]顯示面板的感測裝置與感測方法

有效

• 申請號: 201610889093.7
• 申請日: 2016-10-12
• 公開（公告）號: CN107808635B
• 公開（公告）日: 2020-04-14
• 發明（設計）人: 林俊杰;劉上逸;張華罡
• 申請（專利權）人: 聯詠科技股份有限公司
• 主分類號: G09G3/3233
• 分類號: G09G3/3233
• 代理公司: 北京同立鈞成知識產權代理有限公司 11205
• 代理人: 馬雯雯;臧建明

本發明提供一種顯示面板的感測裝置與感測方法。所述感測裝置包括柵極驅動電路以及感測電路。柵極驅動電路可以于一個幀期間中的多個掃描線期間掃描這些掃描線。感測電路耦接至這些像素電路。這些掃描線期間中的一個對應掃描線期間被分為一個測試數據期間與一個顯示數據期間。于所述測試數據期間，感測電路控制一個對應像素電路以接收測試數據，且感測電路感測所述對應像素電路的電性特性。于所述顯示數據期間，感測電路控制所述對應像素電路以從對應數據線接收顯示數據，且感測電路不感測所述對應像素電路。本發明提供的顯示面板的感測裝置與感測方法可以即時地感測像素電路的電性特性。

技術領域

本發明涉及一種顯示裝置，尤其涉及一種顯示面板的感測裝置與感測方法。

背景技術

一般而言，在主動矩陣有機發光二極管(Active Matrix Organic LightEmitting Diodes，底下稱AMOLED)顯示面板的每一個像素電路中，可以使用兩個晶體管以及一個電容(稱為2T1C結構)來驅動有機發光二極管。藉由控制有機發光二極管的電流，可以決定像素電路的灰階/亮度。然而由于AMOLED顯示面板的不理想特性，像素電路所呈現出的灰階/亮度可能不是預期的灰階/亮度。基于工藝漂移的影響，以及因為元件老化速度的不同，不同像素電路的特性也互有差異。即時地感測像素電路的個別特性，然后依照感測結果對應地補償此像素電路，才能讓像素電路所呈現出的灰階/亮度盡可能接近預期的灰階/亮度。因此，如何即時地感測像素電路的特性，是一個重要課題。

發明內容

本發明提供一種顯示面板的感測裝置與感測方法，其可以即時地感測像素電路的電性特性。

本發明的實施例提供一種顯示面板的感測裝置。顯示面板包含多條掃描線、多條數據線與多個像素電路。這些像素電路中的一個對應像素電路的數據輸入端與柵極端分別耦接至這些數據線中的一條對應數據線與這些掃描線中的一條對應掃描線。所述感測裝置包括柵極驅動電路以及感測電路。柵極驅動電路耦接至這些掃描線。柵極驅動電路可以于一個幀期間中定義多個掃描線期間，以掃描這些掃描線，其中這些掃描線期間中的一個對應掃描線期間對應于所述對應掃描線。感測電路耦接至這些像素電路。于所述對應掃描線期間中的一個測試數據期間，感測電路控制所述對應像素電路以接收測試數據，且感測電路感測所述對應像素電路的電性特性。于所述相同對應掃描線期間中的一個顯示數據期間，感測電路控制所述對應像素電路以從所述對應數據線接收顯示數據，且感測電路不感測所述對應像素電路。

本發明的實施例提供一種顯示面板的感測方法。顯示面板包含多條掃描線、多條數據線與多個像素電路。這些像素電路中的一個對應像素電路的數據輸入端與柵極端分別耦接至這些數據線中的一條對應數據線與這些掃描線中的一條對應掃描線。所述感測方法包括：于一個幀期間中定義多個掃描線期間；由柵極驅動電路于這些掃描線期間掃描這些掃描線，其中這些掃描線期間中的一個對應掃描線期間對應于所述對應掃描線；于所述對應掃描線期間中的一個測試數據期間，控制所述對應像素電路以接收測試數據，且感測所述對應像素電路的電性特性；以及于所述相同對應掃描線期間中的一個顯示數據期間，控制所述對應像素電路以從所述對應數據線接收顯示數據，且不感測所述對應像素電路。

基于上述，本發明實施例所提供的感測裝置與感測方法，其將一個掃描線期間至少分為一個測試數據期間與一個顯示數據期間。于所述測試數據期間，測試數據被寫入一個對應像素電路，同時感測電路感測所述對應像素電路的電性特性(例如電流或電壓)。于所述顯示數據期間，對應數據線的顯示數據(像素數據)被寫入這個對應像素電路，同時感測電路不感測這個對應像素電路。因此，本發明實施例所提供的感測裝置與感測方法可以在一個幀期間中即時地感測這個對應像素電路的電性特性。

為讓本發明的上述特征和優點能更明顯易懂，下文特舉實施例，并配合附圖作詳細說明如下。

附圖說明

圖1是依照本發明實施例所示出的一種顯示裝置的電路方框示意圖；