[發(fā)明專利]一種射線微探針的熱臺(tái)、熱臺(tái)裝置及其實(shí)驗(yàn)方法有效
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 201610888987.4 | 申請(qǐng)日： | 2016-10-11 |
| 公開(kāi)（公告）號(hào)： | CN106483148B | 公開(kāi)（公告）日： | 2019-05-21 |
| 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人： | 何上明;李愛(ài)國(guó);閆帥;高興宇 | 申請(qǐng)（專利權(quán)）人： | 中國(guó)科學(xué)院上海應(yīng)用物理研究所 |
| 主分類號(hào)： | G01N23/00 | 分類號(hào)： | G01N23/00 |
| 代理公司： | 上海智信專利代理有限公司 31002 | 代理人： | 鄧琪 |
| 地址： | 201800 上*** | 國(guó)省代碼： | 上海;31 |
| 權(quán)利要求書(shū)： | 查看更多 | 說(shuō)明書(shū)： | 查看更多 |
| 摘要： | |||
| 搜索關(guān)鍵詞： | 一種 射線 探針 裝置 及其 實(shí)驗(yàn) 方法 | ||
【說(shuō)明書(shū)】：
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G01 測(cè)量；測(cè)試
G01N 借助于測(cè)定材料的化學(xué)或物理性質(zhì)來(lái)測(cè)試或分析材料
G01N23-00 利用未包括在G01N 21/00或G01N 22/00組內(nèi)的波或粒子輻射來(lái)測(cè)試或分析材料，例如X射線、中子
G01N23-02 .通過(guò)使輻射透過(guò)材料
G01N23-20 .利用輻射的衍射，例如，用于測(cè)試晶體結(jié)構(gòu)；利用輻射的反射
G01N23-22 .通過(guò)測(cè)量二次發(fā)射
G01N23-221 ..利用活化分析法
G01N23-223 ..通過(guò)用X射線輻照樣品以及測(cè)量X射線熒光
G01N 借助于測(cè)定材料的化學(xué)或物理性質(zhì)來(lái)測(cè)試或分析材料
G01N23-00 利用未包括在G01N 21/00或G01N 22/00組內(nèi)的波或粒子輻射來(lái)測(cè)試或分析材料，例如X射線、中子
G01N23-02 .通過(guò)使輻射透過(guò)材料
G01N23-20 .利用輻射的衍射，例如，用于測(cè)試晶體結(jié)構(gòu)；利用輻射的反射
G01N23-22 .通過(guò)測(cè)量二次發(fā)射
G01N23-221 ..利用活化分析法
G01N23-223 ..通過(guò)用X射線輻照樣品以及測(cè)量X射線熒光
