[發明專利]一種基于新型量子弱測量的高精密磁場計在審
| 申請號： | 201610885851.8 | 申請日： | 2016-10-10 |
| 公開（公告）號： | CN106483478A | 公開（公告）日： | 2017-03-08 |
| 發明（設計）人： | 陳耕;李傳鋒 | 申請（專利權）人： | 中國科學技術大學 |
| 主分類號： | G01R33/032 | 分類號： | G01R33/032 |
| 代理公司： | 北京凱特來知識產權代理有限公司11260 | 代理人： | 鄭立明,鄭哲 |
| 地址： | 230026 安*** | 國省代碼： | 安徽;34 |
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| 摘要： | |||
| 搜索關鍵詞： | 一種 基于 新型 量子 測量 精密 磁場 | ||
【說明書】：
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