[發明專利]大口徑環拋修正盤表面形狀誤差的檢測方法有效
| 申請號： | 201610879774.5 | 申請日： | 2016-10-09 |
| 公開（公告）號： | CN106225647B | 公開（公告）日： | 2020-03-31 |
| 發明（設計）人： | 廖德鋒;謝瑞清;陳賢華;趙世杰;王健;許喬 | 申請（專利權）人： | 成都精密光學工程研究中心 |
| 主分類號： | G01B5/20 | 分類號： | G01B5/20 |
| 代理公司： | 成都希盛知識產權代理有限公司 51226 | 代理人： | 蒲敏 |
| 地址： | 610041 四*** | 國省代碼： | 四川;51 |
| 權利要求書： | 查看更多 | 說明書： | 查看更多 |
| 摘要： | |||
| 搜索關鍵詞： | 口徑 修正 表面 形狀 誤差 檢測 方法 | ||
【權利要求書】：
下載完整專利技術內容需要扣除積分，VIP會員可以免費下載。
該專利技術資料僅供研究查看技術是否侵權等信息，商用須獲得專利權人授權。該專利全部權利屬于成都精密光學工程研究中心，未經成都精密光學工程研究中心許可，擅自商用是侵權行為。如果您想購買此專利、獲得商業授權和技術合作，請聯系【客服】
本文鏈接：http://www.szxzyx.cn/pat/books/201610879774.5/1.html，轉載請聲明來源鉆瓜專利網。
- 上一篇：一種車輛后蓋間隙測量儀及其測量方法
- 下一篇：工件斜面傾斜角度的測量方法
