[發(fā)明專利]射頻測試裝置

在審

• 申請?zhí)枺?/td>: 201610877083.1
• 申請日: 2016-09-30
• 公開（公告）號: CN107888305A
• 公開（公告）日: 2018-04-06
• 發(fā)明（設計）人: 李吉;陳奎;唐超;李守凱;陸國棟
• 申請（專利權）人: 國家無線電監(jiān)測中心檢測中心;天維訊達無線電設備檢測（北京）有限責任公司
• 主分類號: H04B17/30
• 分類號: H04B17/30
• 代理公司: 北京智匯東方知識產權代理事務所(普通合伙)11391
• 代理人: 康正德,孫曉芳

技術領域

本發(fā)明涉及射頻電路技術領域，特別是涉及一種射頻測試裝置。

背景技術

終端射頻自動測試系統(tǒng)是指采用計算機控制，自動完成建立通話、鏈路切換、信號測量、數(shù)據(jù)計算處理并輸出測試結果的自動化測試系統(tǒng)，主要應用于無線終端射頻指標測試及集成測試系統(tǒng)搭建(包括國內外相關測試標準的射頻指標測試及自動測試系統(tǒng)塔建)。

現(xiàn)有技術中，射頻測試設備主要使用先進的測試儀表，但是在用射頻測試設備進行測試過程中，針對不同的測試項目，需要搭載相應的射頻鏈路以滿足測試要求，同時在完成一項射頻測試過程中需要多條射頻鏈路搭載。如果采用手動搭載測試鏈路的方式，會引入測量誤差，影響測試結果的準確性，而且現(xiàn)有技術中的射頻切換單元主要由國外少數(shù)廠家生產，生產周期長，價格昂貴，而且受限程度大，功能單一，很難靈活的應用于不同的測試環(huán)境，無法完成所有測試項目的測試指標。

發(fā)明內容

鑒于上述問題，提出了本發(fā)明以便提供一種克服上述問題或者至少部分地解決上述問題的射頻測試裝置。

基于本發(fā)明的一個方面，提供了一種射頻測試裝置，包括：切換部件和用于測試不同制式的參數(shù)的多條射頻鏈路，所述多條射頻鏈路間的切換通過所述切換部件實現(xiàn)。

可選地，所述切換部件至少包括：第一開關、第二開關、第一同軸開關、第二同軸開關。

可選地，所述多條射頻鏈路至少包括：

所述射頻測試裝置的輸入端口依次通過所述第一開關、高通濾波器、所述第二開關連接至所述射頻測試裝置的輸出端口，形成第一射頻鏈路；

所述射頻測試裝置的輸入端口依次通過所述第一開關、所述第一同軸開關、所述第二同軸開關、所述第二開關連接至所述射頻測試裝置的輸出端口，形成第二射頻鏈路；

所述射頻測試裝置的輸入端口依次通過所述第一開關、所述第一同軸開關、用于過濾所述不同制式中任一制式的主信號的過濾部件、所述第二同軸開關、所述第二開關連接至所述射頻測試裝置的輸出端口，形成第三射頻鏈路；

所述射頻測試裝置的輸入端口依次通過所述第一開關、所述第一同軸開關、用于過濾所述不同制式中任一制式特定頻段的主信號的過濾部件、所述第二同軸開關、所述第二開關連接至所述射頻測試裝置的輸出端口，形成第四射頻鏈路；

所述射頻測試裝置的輸入端口依次通過所述第一開關、所述第一同軸開關、用于過濾所述不同制式中任意兩種制式中相同頻段的過濾部件、所述第二同軸開關、所述第二開關連接至所述射頻測試裝置的輸出端口，形成第五射頻鏈路。

可選地，所述不同制式至少包括：GSM、CDMA、CDMA2000、WCDMA、TD-SCDMA、LTE。

可選地，所述參數(shù)至少包括下列之一：雜散發(fā)射、發(fā)射功率、頻率誤差、占用帶寬、矢量幅度誤差、頻譜發(fā)射模板、鄰道功率泄露比、RS功率。

可選地，所述用于過濾所述不同制式中任一制式特定頻段的主信號的過濾部件用于過濾頻段為Band38或者Band41的LTE制式的主信號，或者頻段為A段的TD-SCDMA制式的主信號。

可選地，所述用于過濾所述不同制式中任意兩種制式中相同頻段的過濾部件用于過濾具有相同頻段的頻段為Band8的WCDMA制式和頻段為900的GSM制式的主信號，或者，

具有相同頻段的頻段為Band1的LTE制式和頻段為Band1的WCDMA制式的主信號，或者，

具有相同頻段的頻段為Band3的LTE制式和頻段為1800的GSM制式的主信號，或者，

具有相同頻段的頻段為Band39的LTE制式和頻段為F段的TD-SCDMA制式的主信號，或者，

具有相同頻段的頻段為Band40的LTE制式和頻段為E段的TD-SCDMA制式的主信號。

可選地，所述射頻測試裝置的輸入端口和所述第一開關間連接有衰減部件。

可選地，所述衰減部件為固定衰減器和可調衰減器中的任意一種。

可選地，所述固定衰減器為衰減值為40dB的衰減器。