[發明專利]一種應用于觸摸軌跡的平滑處理算法

在審

• 申請號: 201610876574.4
• 申請日: 2016-09-30
• 公開（公告）號: CN106648203A
• 公開（公告）日: 2017-05-10
• 發明（設計）人: 李澤民;楊亞明;石含映;鐘峰
• 申請（專利權）人: 上海磐啟微電子有限公司
• 主分類號: G06F3/041
• 分類號: G06F3/041
• 代理公司: 上海旭誠知識產權代理有限公司31220
• 代理人: 鄭立

1.一種應用于觸摸軌跡的平滑處理算法，其特征在于，所述算法采用一次指數平滑算法，其中，所述一次指數平滑算法的步驟包括確定初始狀態值、計算一次指數平滑值和預測值。

2.如權利要求1所述的應用于觸摸軌跡的平滑處理算法，其特征在于，所述初始狀態值為最初2期的平均值。

3.如權利要求1所述的應用于觸摸軌跡的平滑處理算法，其特征在于，所述算法在采用所述一次指數平滑算法的基礎上，進一步采用二次指數平滑算法。

4.如權利要求3所述的應用于觸摸軌跡的平滑處理算法，其特征在于，所述算法包括以下步驟：

步驟1、確定初始狀態值；

步驟2、計算第t期一次指數平滑值：

S′_t＝αx_t+(1-α)S′_t-1

其中，S′_t為第t期的一次指數平滑值，α為平滑常數；

步驟3、計算第t期二次指數平滑值：

S″_t＝αS′_t+(1-α)S′_t-1

其中，S″_t為第t期的二次指數平滑值，α為平滑常數；

步驟4、算出第t+T期的預測值：

F_t+T＝a_t+b_tT

a_t＝2S′_t-S″_t

$b_t=\frac{\mathrm{\α}}{1-\mathrm{\α}}(S_t^{\′}-S_t^{\′\′})$

其中，F_t+T為t+T期預測值，T為未來預測的期數，a_t，b_t分別為模型參數。

5.如權利要求4所述的應用于觸摸軌跡的平滑處理算法，其特征在于，所述初始狀態值為最初3期的平均值。

6.如權利要求4所述的應用于觸摸軌跡的平滑處理算法，其特征在于，所述平滑常數α的取值范圍為0.01～0.25。