[發(fā)明專利]智能測(cè)試管理有效
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 201610875508.5 | 申請(qǐng)日: | 2016-09-30 |
| 公開(kāi)(公告)號(hào): | CN107070566B | 公開(kāi)(公告)日: | 2021-07-23 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 安東·斯特羅邁耶;邁克爾·布勞克;拉爾夫·普勞曼;托馬斯·盧茨;弗朗茨·奧伯邁爾;克里斯蒂安·克勞斯;延斯·福爾克曼 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 羅德施瓦茲兩合股份有限公司 |
| 主分類號(hào): | H04B17/318 | 分類號(hào): | H04B17/318;H04B17/345;H04B17/15 |
| 代理公司: | 北京同達(dá)信恒知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限公司 11291 | 代理人: | 黃志華;何月華 |
| 地址: | 德國(guó)*** | 國(guó)省代碼: | 暫無(wú)信息 |
| 權(quán)利要求書(shū): | 查看更多 | 說(shuō)明書(shū): | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 智能 測(cè)試 管理 | ||
1.一種使用移動(dòng)通信測(cè)試設(shè)備來(lái)至少測(cè)試第一待測(cè)設(shè)備DUT和第二待測(cè)設(shè)備DUT的方法,所述方法包括以下步驟:
確定來(lái)自/去往所述第一待測(cè)設(shè)備DUT的第一射頻RF測(cè)試信號(hào)是否干擾來(lái)自/去往所述第二待測(cè)設(shè)備DUT的第二射頻RF測(cè)試信號(hào);
確定來(lái)自/去往所述第二待測(cè)設(shè)備DUT的所述第二射頻RF測(cè)試信號(hào)是否干擾來(lái)自/去往所述第一待測(cè)設(shè)備DUT的所述第一射頻RF測(cè)試信號(hào);
預(yù)先確定至少通過(guò)施加所述第一射頻RF測(cè)試信號(hào)獲得的第一測(cè)量結(jié)果是否以高于第一干擾閾值被干擾;以及
預(yù)先確定至少通過(guò)施加所述第二射頻RF測(cè)試信號(hào)獲得的第二測(cè)量結(jié)果是否以高于第二干擾閾值被干擾,
其中,所述第一待測(cè)設(shè)備DUT利用與所述第二待測(cè)設(shè)備DUT的頻率范圍的頻率間隙Δf被檢查和評(píng)估,利用所述頻率間隙Δf,沒(méi)有獲得干擾且能夠同時(shí)測(cè)試所述第一待測(cè)設(shè)備DUT和所述第二待測(cè)設(shè)備DUT,并且當(dāng)所述第一待測(cè)設(shè)備DUT的頻率范圍干擾所述第二待測(cè)設(shè)備DUT的頻率范圍時(shí),順序評(píng)估所述第一待測(cè)設(shè)備DUT和所述第二待測(cè)設(shè)備DUT。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法,其中,所述第一測(cè)量結(jié)果和/或所述第二測(cè)量結(jié)果為誤差向量幅度EVM值或者比特誤碼率BER值或者接收信號(hào)強(qiáng)度指示RSSI值。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法,其中,所述第一測(cè)量結(jié)果和/或所述第二測(cè)量結(jié)果為功率值。
4.根據(jù)權(quán)利要求3所述的方法,其中,所述第一測(cè)量結(jié)果和/或所述第二測(cè)量結(jié)果為鄰近信道功率ACP值或者鄰近信道泄漏功率比ACLR值。
5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法,還包括:
在未達(dá)到所述第一干擾閾值和所述第二干擾閾值的情況下,同時(shí)測(cè)試所述第一待測(cè)設(shè)備DUT和所述第二待測(cè)設(shè)備DUT。
6.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法,還包括:
在超過(guò)所述第一干擾閾值或所述第二干擾閾值的情況下,順序測(cè)試所述第一待測(cè)設(shè)備DUT和所述第二待測(cè)設(shè)備DUT。
7.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法,還包括:
確定所述第一待測(cè)設(shè)備DUT和所述第二待測(cè)設(shè)備DUT之間的隔離值;以及
將所述隔離值存儲(chǔ)作為隔離矩陣。
8.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法,其中,待測(cè)設(shè)備DUT的數(shù)目大于2。
9.一種用于至少測(cè)試第一待測(cè)設(shè)備DUT和第二待測(cè)設(shè)備DUT的測(cè)試裝置,所述測(cè)試裝置包括:
用于連接第一待測(cè)設(shè)備DUT的至少第一端子;
用于連接第二待測(cè)設(shè)備DUT的至少第二端子;
信號(hào)發(fā)生單元;和
中央單元,所述中央單元配置成處理以下步驟:
確定來(lái)自/去往所述第一待測(cè)設(shè)備DUT的第一射頻RF測(cè)試信號(hào)是否干擾來(lái)自/去往所述第二待測(cè)設(shè)備DUT的第二射頻RF測(cè)試信號(hào);
確定來(lái)自/去往所述第二待測(cè)設(shè)備DUT的所述第二射頻RF測(cè)試信號(hào)是否干擾來(lái)自/去往所述第一待測(cè)設(shè)備DUT的所述第一射頻RF測(cè)試信號(hào);
預(yù)先確定至少通過(guò)施加所述第一射頻RF測(cè)試信號(hào)獲得的第一測(cè)量結(jié)果是否以高于第一干擾閾值被干擾;以及
預(yù)先確定至少通過(guò)施加所述第二射頻RF測(cè)試信號(hào)獲得的第二測(cè)量結(jié)果是否以高于第二干擾閾值被干擾,
其中,所述第一待測(cè)設(shè)備DUT利用與所述第二待測(cè)設(shè)備DUT的頻率范圍的頻率間隙Δf被檢查和評(píng)估,利用所述頻率間隙Δf,沒(méi)有獲得干擾且能夠同時(shí)測(cè)試所述第一待測(cè)設(shè)備DUT和所述第二待測(cè)設(shè)備DUT,并且當(dāng)所述第一待測(cè)設(shè)備DUT的頻率范圍干擾所述第二待測(cè)設(shè)備DUT的頻率范圍時(shí),順序評(píng)估所述第一待測(cè)設(shè)備DUT和所述第二待測(cè)設(shè)備DUT。
10.根據(jù)權(quán)利要求9所述的測(cè)試裝置,其中,所述信號(hào)發(fā)生單元設(shè)置在所述測(cè)試裝置外部;以及
其中,所述信號(hào)發(fā)生單元經(jīng)由第三端子連接至所述測(cè)試裝置。
該專利技術(shù)資料僅供研究查看技術(shù)是否侵權(quán)等信息,商用須獲得專利權(quán)人授權(quán)。該專利全部權(quán)利屬于羅德施瓦茲兩合股份有限公司,未經(jīng)羅德施瓦茲兩合股份有限公司許可,擅自商用是侵權(quán)行為。如果您想購(gòu)買此專利、獲得商業(yè)授權(quán)和技術(shù)合作,請(qǐng)聯(lián)系【客服】
本文鏈接:http://www.szxzyx.cn/pat/books/201610875508.5/1.html,轉(zhuǎn)載請(qǐng)聲明來(lái)源鉆瓜專利網(wǎng)。
- 軟件測(cè)試系統(tǒng)及測(cè)試方法
- 自動(dòng)化測(cè)試方法和裝置
- 一種應(yīng)用于視頻點(diǎn)播系統(tǒng)的測(cè)試裝置及測(cè)試方法
- Android設(shè)備的測(cè)試方法及系統(tǒng)
- 一種工廠測(cè)試方法、系統(tǒng)、測(cè)試終端及被測(cè)試終端
- 一種軟件測(cè)試的方法、裝置及電子設(shè)備
- 測(cè)試方法、測(cè)試裝置、測(cè)試設(shè)備及計(jì)算機(jī)可讀存儲(chǔ)介質(zhì)
- 測(cè)試裝置及測(cè)試系統(tǒng)
- 測(cè)試方法及測(cè)試系統(tǒng)
- 一種數(shù)控切削指令運(yùn)行軟件測(cè)試系統(tǒng)及方法





