[發明專利]一種微納米顆粒磁組裝的電性能測試裝置及其測試方法有效
| 申請號： | 201610866496.X | 申請日： | 2016-09-27 |
| 公開（公告）號： | CN106501636B | 公開（公告）日： | 2018-12-18 |
| 發明（設計）人： | 牛小東;李翔;陳木鳳;李游;李橋忠 | 申請（專利權）人： | 汕頭大學 |
| 主分類號： | G01R31/00 | 分類號： | G01R31/00 |
| 代理公司： | 廣州三環專利商標代理有限公司 44202 | 代理人： | 溫旭;張澤思 |
| 地址： | 515063 廣*** | 國省代碼： | 廣東;44 |
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| 摘要： | |||
| 搜索關鍵詞： | 一種 納米 顆粒 組裝 性能 測試 裝置 及其 方法 | ||
【說明書】：
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