[發明專利]一種用于手動檢測的高分辨超聲探頭

在審

• 申請號: 201610865641.2
• 申請日: 2016-09-29
• 公開（公告）號: CN107884478A
• 公開（公告）日: 2018-04-06
• 發明（設計）人: 高曉進;周金帥;賀鎖讓;李晉平;王國帥;江柏紅
• 申請（專利權）人: 航天特種材料及工藝技術研究所
• 主分類號: G01N29/24
• 分類號: G01N29/24
• 代理公司: 暫無信息
• 代理人: 暫無信息

1.一種用于手動檢測的高分辨超聲探頭，包括超聲換能器，延遲塊和延遲塊固定環，所述超聲換能器和延遲塊通過延遲塊固定環固定，所述超聲換能器包括探頭外殼，設置在探頭外殼上端的插座以及設置在探頭外殼內的封裝膠、聲阻尼塊和壓電晶片，其特征在于：所述壓電晶片設置在探頭外殼下端口，所述聲阻尼塊由鎢粉、環氧樹脂體系制成，其澆注于壓電晶片的正極表面且中心高度與壓電晶片的高度比為50-100:1，且所述聲阻尼塊上端與水平面之間的角度不小于30°，所述封裝膠設置在聲阻尼塊之上。

2.根據權利要求1所述的一種用于手動檢測的高分辨超聲探頭，其特征在于：所述鎢粉的粒度不小于400目，且所述鎢粉的含量占總重量的65-80％。

3.根據權利要求2所述的一種用于手動檢測的高分辨超聲探頭，其特征在于：所述環氧樹脂固化體系包括環氧樹脂和固化劑。

4.根據權利要求1所述的一種用于手動檢測的高分辨超聲探頭，其特征在于：所述壓電晶片的負極表面澆注有晶片保護膜，其厚度小于0.2mm。

5.根據權利要求4所述的一種用于手動檢測的高分辨超聲探頭，其特征在于：所述壓電晶片的負極表面的中心上焊接有負極導線，且導線兩端焊接于探頭外殼的內表面。

6.根據權利要求1所述的一種用于手動檢測的高分辨超聲探頭，其特征在于：所述聲阻尼塊具有聲阻尼塊外殼，所述外殼通過封裝膠和凸臺設計固定于探頭外殼上。

7.根據權利要求6所述的一種用于手動檢測的高分辨超聲探頭，其特征在于：所述探頭外殼內部高出聲阻尼塊外殼的部位和插座的負極通過負極導線連接。

8.根據權利要求6所述的一種用于手動檢測的高分辨超聲探頭，其特征在于：所述壓電晶片的外圓周面與聲阻尼塊外殼的內圓周面粘接為整體，且壓電晶片的正極表面中心焊接正極導線，正極導線的另一端與插座的正極連接。

9.根據權利要求1所述的一種用于手動檢測的高分辨超聲探頭，其特征在于：所述延遲塊的縱剖面形狀為楔形，且與被檢測件的材料相同或聲阻抗差值小于10％，其高度滿足：

高度>(被檢測件檢測厚度/被檢測件的聲速)*延遲塊的聲速。