[發明專利]獲取磁珠識別閾值的方法和系統、識別磁珠的方法和系統

在審

• 申請號: 201610861892.3
• 申請日: 2016-09-27
• 公開（公告）號: CN107886492A
• 公開（公告）日: 2018-04-06
• 發明（設計）人: 盛司潼;冀高
• 申請（專利權）人: 廣州康昕瑞基因健康科技有限公司
• 主分類號: G06T7/00
• 分類號: G06T7/00;G06T7/11;G06T7/136;G06T7/187;G06T7/194
• 代理公司: 暫無信息
• 代理人: 暫無信息

1.一種獲取磁珠識別閾值的方法，其特征在于，所述方法包括以下步驟：

均值計算步驟，根據預設閾值將高通量基因測序圖像的預設區域中的所有像素點分別歸類至磁珠像素點集和背景像素點集，然后計算磁珠像素點集中所有像素點信號值的平均值，得磁珠像素點均值，計算背景像素點集中所有像素點信號值的平均值，得背景像素點均值；

更新步驟，令磁珠像素點均值和背景像素點均值的平均值為預設閾值，重復均值計算步驟一次；

判斷步驟，判斷更新步驟所得任一像素點集的像素點均值與均值計算步驟所得相同像素點集的像素點均值的差值是否在預設區間內，若是，則進入磁珠識別閾值獲得步驟；

磁珠識別閾值獲得步驟，計算更新步驟所得磁珠像素點均值和背景像素點均值的平均值作為磁珠識別閾值。

2.根據權利要求1所述的獲取磁珠識別閾值的方法，其特征在于，所述判斷步驟，判斷最新一次均值計算步驟所得任一像素點集的像素點均值與上一次均值計算步驟所得相同像素點集的像素點均值的差值是否在預設區間內，若是，則進入磁珠識別閾值獲得步驟；若否，則進入更新步驟；

所述磁珠識別閾值獲得步驟，計算最后一次更新步驟所得磁珠像素點均值和背景像素點均值的平均值作為磁珠識別閾值。

3.根據權利要求1所述的獲取磁珠識別閾值的方法，其特征在于，所述方法還包括：

預設閾值獲得步驟，對高通量基因測序圖像的預設區域中的所有像素點按信號值大小進行排序，然后計算排序后位于第一位置的像素點信號值和位于第二位置的像素點信號值的平均值作為預設閾值；或對高通量基因測序圖像的預設區域中的所有像素點按信號值大小進行排序，然后計算排序后位于第一范圍內的像素點信號值的平均值，得第一范圍像素點均值，計算排序后位于第二范圍內的像素點信號值的平均值，得第二范圍像素點均值，以第一范圍像素點均值和第二范圍像素點均值的平均值為預設閾值。

4.根據權利要求1所述的獲取磁珠識別閾值的方法，其特征在于，所述方法還包括：

驗證步驟，驗證均值計算步驟的結果，若均值計算步驟能夠獲得磁珠像素點均值和背景像素點均值，則進入更新步驟，否則，在進入預設閾值獲得步驟獲得預設閾值后，重新進入均值計算步驟；

預設閾值獲得步驟，對高通量基因測序圖像的預設區域中的所有像素點按信號值大小進行排序，然后計算排序后位于第一位置的像素點信號值和位于第二位置的像素點信號值的平均值作為預設閾值；或

對高通量基因測序圖像的預設區域中的所有像素點按信號值大小進行排序；然后計算排序后位于第一范圍內的像素點信號值的平均值，得第一范圍像素點均值，計算排序后位于第二范圍內的像素點信號值的平均值，得第二范圍像素點均值；以第一范圍像素點均值和第二范圍像素點均值的平均值為預設閾值。

5.根據權利要求1所述的獲取磁珠識別閾值的方法，其特征在于，所述預設區域為高通量基因測序圖像中的正中矩形區域。

6.根據權利要求1所述的獲取磁珠識別閾值的方法，其特征在于，所述預設閾值在1000至2000之間；所述預設區間為-2至2。

7.根據權利要求3或4所述的獲取磁珠識別閾值的方法，其特征在于，所述高通量基因測序圖像的預設區域中的所有像素點數量為M，M大于10；所述排序為由大到小排列；所述第一位置為第a個像素點；所述第二位置為第b個像素點；所述第一范圍為第1至c位；所述第二范圍為第d位至M位；所述a=int（10%×M）；所述b=int（90%×M），所述c= int（15%×M）；所述d=int（85%×M）。

8.一種獲取磁珠識別閾值的系統，其特征在于，所述系統包括：

均值計算模塊，用于根據預設閾值將高通量基因測序圖像的預設區域中的所有像素點分別歸類至磁珠像素點集和背景像素點集，然后計算磁珠像素點集中所有像素點信號值的平均值，得磁珠像素點均值，計算背景像素點集中所有像素點信號值的平均值，得背景像素點均值；

更新模塊，用于令磁珠像素點均值和背景像素點均值的平均值為預設閾值，發出指令使均值計算模塊工作；

判斷模塊，用于判斷更新模塊所得任一像素點集的像素點均值與均值計算模塊所得相同像素點集的像素點均值的差值是否在預設區間內，若是，則發出指令使磁珠識別閾值獲得模塊工作；

磁珠識別閾值獲得模塊，用于計算更新模塊所得磁珠像素點均值和背景像素點均值的平均值作為磁珠識別閾值。