[發(fā)明專利]載波包絡(luò)相位穩(wěn)定性高的光參量放大系統(tǒng)和穩(wěn)定方法

有效

• 申請?zhí)枺?/td>: 201610856570.X
• 申請日: 2016-09-27
• 公開（公告）號: CN107026388B
• 公開（公告）日: 2019-09-20
• 發(fā)明（設(shè)計）人: 李娜;劉鵬;白亞;宋立偉
• 申請（專利權(quán)）人: 中國科學院上海光學精密機械研究所
• 主分類號: H01S3/13
• 分類號: H01S3/13;H01S3/131
• 代理公司: 上海新天專利代理有限公司 31213
• 代理人: 張澤純;張寧展

1.一種利用的載波包絡(luò)相位穩(wěn)定性高的光參量放大系統(tǒng)的穩(wěn)定方法，該光參量放大系統(tǒng)，包括：飛秒激光器(1)、激光分束片(2)、白光產(chǎn)生器(3)、第一平面反射鏡(4)、第二平面反射鏡(7)和光參量放大器(8)，飛秒激光器(1)輸出的光束經(jīng)激光分束片(2)后分成透射光束和反射光束，所述的透射光束經(jīng)白光產(chǎn)生器(3)產(chǎn)生超連續(xù)譜相干白光作為信號光，所述的反射光束為泵浦光，該泵浦光經(jīng)所述的第一平面反射鏡(4)和第二平面反射鏡(7)與所述的信號光進入所述的光參量放大器(8)，其特征在于，在所述的第一平面反射鏡(4)和第二平面反射鏡(7)之間的泵浦光路上設(shè)置熔融石英楔板對(5)，其中一個熔融石英楔板放置于電動平移臺(6)上，在所述的光參量放大器(8)的輸出光路上設(shè)置有閑置光分束片(9)，在所述的閑置光分束片(9)的反射光方向設(shè)置CEP穩(wěn)定性測量裝置(10)，該CEP穩(wěn)定性測量裝置(10)的輸出端和計算機(11)的輸入端相連，所述的計算機(11)的輸出端與所述的電動平移臺(6)的控制端相連；其特征在于該方法包括下列步驟：

①所述的光參量放大器(8)輸出的閑置光經(jīng)閑置光分束片(9)分成透射光束和反射光束，將所述的反射光束導入CEP穩(wěn)定性測量裝置(10)，測量所述的閑置光的CEP漂移量其中L是所述的光參量放大器(8)的光參量晶體的厚度，Δk(t)是光參量放大過程引入的相位失配量；

②所述的計算機(11)根據(jù)所述的CEP漂移量按下列公式計算出所述的電動平移臺(6)的位移量：

其中，所述的電動平移臺(6)移動導致石英楔板對插入量增加的方向為正，β是石英楔板對(5)的石英楔板的楔角，d_{fus_deph}(λ_p)是泵浦光在熔融石英材料中失相長度；

③計算機向所述的電動平移臺(6)的控制端輸出命令，驅(qū)動所述的電動平移臺運動移動d_stag(t)，改變泵浦光路中所述的石英楔板對(5)的插入量；

④重復上述步驟①②③，實現(xiàn)OPA輸出CEP的穩(wěn)定的閑置光。