[發明專利]用于校準和測試多個過熱控制器的方法和設備在審
| 申請號: | 201610855273.3 | 申請日: | 2016-09-27 |
| 公開(公告)號: | CN106873570A | 公開(公告)日: | 2017-06-20 |
| 發明(設計)人: | B.C.鐘;W.C.朗;A.拉奧;C.楊;J.阮;老喬.A.奧赫達;C.B.賓格爾 | 申請(專利權)人: | 盾安美斯泰克股份有限公司 |
| 主分類號: | G05B23/02 | 分類號: | G05B23/02 |
| 代理公司: | 北京市柳沈律師事務所11105 | 代理人: | 葛青 |
| 地址: | 美國德*** | 國省代碼: | 暫無信息 |
| 權利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 用于 校準 測試 過熱 控制器 方法 設備 | ||
技術領域
本發明總體涉及過熱控制器。特別地,本發明涉及用于同時校準和/或測試多個過熱控制器內的壓力傳感器的改進的方法和設備。
背景技術
美國專利No.9,140,613公開了過熱控制器(superheat controller,SHC)。該專利中公開的SHC是單一的、自成一體的(self-contained)、獨立的裝置,其包括所有傳感器、電子器件和自動探測流體類型如制冷劑的智能,并且報告用于住宅、工業和科學應用的多個常見的流體類型的過熱。美國專利No.9,140,613的全部內容通過引用并入本文。
本文的圖5和6示出了已知的SHC 10,其與美國專利No.9,140,613公開的過熱控制器類似。如圖5和6所示,SHC 10示出的實施例包括具有本體14的殼體12、蓋16和流體入口構件18。流體入口構件18可以通過安裝環19固定到殼體12。安裝環19通過螺紋連接將流體入口構件18附接至殼體12部分。可替代地,可以通過任意希望的方法將安裝環19附接至流體入口構件18,如通過焊接或壓力裝配。在圖5和6示出的實施例中,流體入口構件18是黃銅配件,具有限定密封表面20的中心形成的開口。當在常規的加熱、通風、空調和制冷(HVAC-R)系統(未示出)中以已知的方式使用時,SHC 10的密封表面20可以接合HVAC-R系統中的連接器以限定金屬對金屬的密封。
已知的過熱控制器包括作為其完整構件的壓力傳感器。例如,已知的SHC 10包括集成的壓力和溫度傳感器22,壓力和溫度傳感器22具有安裝到印刷電路板(PCB)28的壓力傳感器部分24和溫度傳感器部分26。過熱處理器30、數據報告或通信模塊32和輸入/輸出(IO)模塊34也安裝到PCB 28。IO模塊34是物理硬件接口,接收輸入功率并且通過可用的硬連線接口如電線或電纜36將數據報告到過熱處理器30。可以通過IO模塊34連接到SHC 10的目標裝置在圖6中附圖標記38處示意性地示出,并且可以包括額外的溫度傳感器、手提電腦和筆記本電腦、手機、存儲卡,以及在線路測試設備的常規終端中或與其一起使用的任意裝置。可替代地,目標裝置38可以通過無線連接而連接到通信模塊32。
過熱處理器30被安裝到PCB 28,并且是高分辨率、高準確性的裝置,其處理分別來自集成的壓力和溫度傳感器22的壓力和溫度傳感器部分24和26的輸入信號、探測流體類型、計算流體的過熱,并且提供識別計算的過熱水平的輸出。過熱處理器30還可以被配置為提供其它數據,如流體溫度、流體壓力、流體類型、保持在板載存儲器中的相關歷史日期(如警報和開斷的歷史),以及其它所需的信息。有利地,過熱處理器30在壓力和溫度通常的操作范圍內在一次校準后保持高水平的準確性。合適的過熱處理器的非限制示例包括微處理器、現場可編程門陣列(FPGA)和專用集成電路(ASIC)具有嵌入式和/或外置存儲器和外圍設備。
在已知的SHC 10中,壓力傳感器或換能器(transducer)如壓力傳感器部分24,可以在非校準狀態下供給,并且因此必須校準SHC 10,如在常規的環境室內。對于SHC 10已知的校準程序要求使SHC 10穩定在兩個不同的溫度。在所述兩個溫度的每個中,校準程序必須在兩個不同的壓力完成并且存儲。在兩個溫度的每個在兩個壓力完成校準后,SHC 10返回到驗證溫度,通常為室溫,并且校準的準確性在多個壓力點被驗證,如五個壓力點。
通常,使SHC 10穩定在兩個校準溫度的每個和在驗證溫度所需的時間為大約一個半小時(1.5小時)。雖然使SHC 10穩定在兩個校準溫度的每個和在驗證溫度所需的時間將隨著使用的環境室的類型和特性變化,但是時間可以在大約1.0小時到大約2.0小時的范圍內。執行校準程序和將結果存儲在SHC 10中所需的時間可以是大約10分鐘。因此,用于校準和驗證所需的時間大部分用于使SHC 10到達和穩定在兩個校準溫度和在驗證溫度。例如,以已知的方式單獨校準和驗證25個SHC 10所需的時間大約為79小時。
因此,希望的是,提供一種用于同時校準多個過熱控制器內的壓力傳感器的改進的方法和設備。
發明內容
本發明涉及用于同時校準和/或測試多個過熱控制器內的壓力傳感器的改進的方法和設備。在一個實施例中,校準多個過熱控制器的方法包括將多個過熱控制器附接至歧管組件、將歧管組件包圍在環境室內、以及同時校準多個過熱控制器中的每個內的壓力傳感器。
該專利技術資料僅供研究查看技術是否侵權等信息,商用須獲得專利權人授權。該專利全部權利屬于盾安美斯泰克股份有限公司,未經盾安美斯泰克股份有限公司許可,擅自商用是侵權行為。如果您想購買此專利、獲得商業授權和技術合作,請聯系【客服】
本文鏈接:http://www.szxzyx.cn/pat/books/201610855273.3/2.html,轉載請聲明來源鉆瓜專利網。
- 上一篇:工業自動化封裝電力解決方案
- 下一篇:指令生成裝置





