[發明專利]具有除塵結構的雷達波物位計

在審

• 申請號: 201610850035.3
• 申請日: 2016-09-26
• 公開（公告）號: CN107870021A
• 公開（公告）日: 2018-04-03
• 發明（設計）人: 林益助;游耀臣;鄭兆凱;侯宜良
• 申請（專利權）人: 桓達科技股份有限公司
• 主分類號: G01F23/284
• 分類號: G01F23/284
• 代理公司: 北京律誠同業知識產權代理有限公司11006
• 代理人: 梁揮,鮑俊萍

技術領域

本發明涉及于物位計，尤指一種具有除塵結構的雷達波物位計。

背景技術

雷達波物位計是采用微波脈沖的非接觸測量方式，其可安裝于各種金屬、非金屬容器或管道內，具有安裝簡便、易于維護、精確度高、使用場合廣等優點。

一般來說，雷達波物位計可適用于粉塵、溫度及壓力變化大、存在惰性氣體或蒸汽或腐蝕性強的物料環境中，以對液體、漿料及顆粒料的物位進行非接觸式連續測量。然而，當雷達波物位計安裝在粉體物料或高溫蒸氣環境下進行操作時，雷達波物位計容易被環境中的物料粉塵覆蓋，造成雷達波物位計的精度誤差變大，甚至喪失檢測功能，為此需要定期派人清理。惟，此舉不但增加人工成本，也影響測量結果的可靠度，故不符使用需求。

有鑒于此，本發明遂針對上述現有技術，特潛心研究并配合學理的運用，盡力解決上述的問題點，即成為本發明改良的目標。

發明內容

本發明的一目的，在于提供一種具有除塵結構的雷達波物位計，以改善需定期清洗的不便性。

為了達成上述的目的，本發明提供一種具有除塵結構的雷達波物位計，包括檢測本體、天線本體及薄膜片。檢測本體具有能夠發射感測信號及接收反射信號的控制電路板，天線本體一端連接檢測本體，薄膜片結合在天線本體上并遮蓋天線本體的另一端；其中，氣流通過薄膜片而能夠令附著在該薄膜片上的粉塵掉落。

為了達成上述的目的，本發明還提供一種具有除塵結構的雷達波物位計，其配合一工作氣體使用，包括檢測本體、天線本體及薄膜片。檢測本體具有輸氣通道及能夠發射感測信號及接收反射信號的控制電路板；天線本體具有中空腔體，天線本體在中空腔體的二端分別為第一開口及第二開口，第一開口連接檢測本體；薄膜片結合在天線本體上，并遮蓋天線本體的第二開口；其中，工作氣體通過輸氣通道并帶動薄膜片變形，以令附著在薄膜片上的粉塵掉落。

其中，更包含一天線透鏡，該天線透鏡位于該天線本體與該薄膜片之間，且該天線透鏡結合在該第二開口上，并受該薄膜片遮蓋。

其中，該天線透鏡具有多個輸氣孔洞，該輸氣孔洞在該天線透鏡上呈等間距地環型排列。

其中，該薄膜片具有多個孔隙。

其中，更包含一滑動圓球，該滑動圓球設置于該薄膜片內側面且容納于該薄膜片與該檢測本體之間，該滑動圓球在該薄膜片變形時能夠產生位移而令附著在該薄膜片上的外物掉落。

其中，該滑動圓球為一低介電系數材質所構成的一球體。

其中，更包含一電磁閥，該電磁閥控制所述工作氣體進出該輸氣通道，該薄膜片受所述工作氣體的流動而產生膨脹或收縮的變形。

其中，該薄膜片由不織布、玻璃纖維或具有細致孔洞的布料所構成。

其中，該天線本體呈號角狀。

本發明提供一種具有除塵結構的雷達波物位計，可以改善需定期清洗的不便性，避免操作人員于惡劣環境進行清洗作業的風險，增加使用上的便利性。本發明的具有除塵結構的雷達波物位計，可以保持正常的量測狀況，并維持量測精度，增加使用上的實用性。

相較于現有技術，本發明的具有除塵結構的雷達波物位計將薄膜片結合在天線本體上，并遮蓋天線本體的另一端，當氣流通過薄膜片時能夠令附著在薄膜片外側面的異物掉落，故不需要定期派人清理，增加雷達波物位計的實用性及便利性；此外，本發明的雷達波物位計還可設置有輸氣通道，并配合工作氣體使用，當工作氣體會流向薄膜片時會帶動薄膜片而使其產生變形，通過薄膜片受到工作氣體的作用而產生膨脹或收縮變形，借此而令附著在薄膜片上(外側面)的粉塵掉落，達到清潔薄膜片的功能。

以下結合附圖和具體實施例對本發明進行詳細描述，但不作為對本發明的限定。

附圖說明

圖1為本發明的具有除塵結構的雷達波物位計的立體外觀示意圖。

圖2為本發明的具有除塵結構的雷達波物位計的組合剖視圖。

圖3為圖2中的部分放大示意圖。

圖4為本發明的具有除塵結構的雷達波物位計的使用示意圖。

圖5為本發明的雷達波物位計的另一實施方式。

圖6為本發明的雷達波物位計的又一實施方式的吹氣示意。

圖7為本發明的雷達波物位計的又一實施方式的吸氣示意。

圖8為本發明的雷達波物位計的第二實施例。

其中，附圖標記：

1、1a：雷達波物位計

2：工作氣體

3：粉塵

10、10a：檢測本體

11：輸氣通道

12：控制電路板

20、20a：天線本體