[發明專利]一種基于斷裂自相似理論的低級序斷層發育規律預測方法

有效

• 申請號: 201610849701.1
• 申請日: 2016-09-24
• 公開（公告）號: CN106291715B
• 公開（公告）日: 2018-04-03
• 發明（設計）人: 劉敬壽;丁文龍;楊海盟;王興華;李昂
• 申請（專利權）人: 中國地質大學（北京）
• 主分類號: G01V1/50
• 分類號: G01V1/50
• 代理公司: 暫無信息
• 代理人: 暫無信息

1.一種基于斷裂自相似理論的低級序斷層發育規律預測方法，預測的步驟如下：

1)利用地震解釋相關軟件，通過精細地震解釋獲得工區的斷層平面展布圖，得到研究區的斷層平面展布、地震剖面圖；

2)設定斷裂自相似性發育規律量化參數；斷裂信息維D表示為：

D(F)=-limϵ→0I(ϵ)ln(ϵ)---(1)]]>

公式(1)中，P_i是每個信息點落入第i個小柵格的概率；ε為柵格的邊長；為了更為具體的表示斷裂的這種自相似性，定義了兩個參數：

信息維差：

ΔD＝D₂-D₁(2)

相似性差：

ΔR²＝R²₂-R²₁(3)

當增加某條低級序斷層時，公式(2)、公式(3)中，D₁、D₂分別為低級序斷層增加前后，對應的斷裂信息維數值；R²₁、R²₂分別為低級序斷層增加前后，斷裂的相似程度評價量化結果——每個單元內對變量擬合后得到D值，對應的擬合系數；ΔD、ΔR²為增加某條小斷層后，某一單元內，斷層的信息維、相似程度變化后與變化前的差；

當刪除某條低級序斷層時，公式(2)、公式(3)中，D₂、D₁分別為低級序斷層刪除前后，對應的斷裂信息維數值；R²₂、R²₁分別為低級序斷層刪除前后，斷裂的相似程度評價量化結果——每個單元內對變量擬合后得到D值，對應的擬合系數；ΔD、ΔR²為刪除某條小斷層后，某一單元內，斷層的信息維、相似程度變化前與變化后的差；

3)斷裂自相似性參數檢驗——以工區已落實的斷裂系統為例，共計n條斷裂，選取其中的m條低級序斷層做統計分析，其余n-m條為控制斷裂；設計兩個方案：方案A：在n-m條高級序斷層的控制下，逐條增加低級序斷層的條數，判斷ΔR²、ΔD的變化；方案B：將n條斷層作為整體，逐條刪除每條斷層，判斷每條斷層的ΔR²、ΔD的變化；

4)在地震解釋的基礎上，通過油藏的實際開發過程中油水的變化以及動態資料分析，獲取油藏的斷裂圖；

5)建立低級序斷層發育規律預測模型，在獲取油藏的斷裂展布圖的基礎上，建立低級序斷層發育規律預測模型；

6)模擬確定低級序斷層的二次解釋方案，采用逐條判別的方法，分析每條斷層刪除后的兩個參數——信息維差ΔD、相似性差ΔR²的變化；判斷刪除某條小斷層后，某一單元內，斷層的信息維、相似性變化之差；篩選其中斷裂信息維差ΔD、相似性差ΔR²減小的斷裂進行修改、調試，使斷裂信息維差ΔD、相似性差ΔR²總體朝著增大的方向發展；

7)斷層調整后的方案與應力場模擬結果的對比驗證——在確定斷層形成的古構造應力場的基礎上，從地質力學的角度分析低級序斷層的發育規律，并與斷裂自相似性確定的斷層解釋方案對比、驗證。