[發(fā)明專利]用于氣體分析系統(tǒng)的信號檢測的方法

有效

• 申請?zhí)枺?/td>: 201610849383.9
• 申請日: 2016-09-26
• 公開（公告）號: CN107024443B
• 公開（公告）日: 2019-12-10
• 發(fā)明（設(shè)計）人: P.德雷耶;L.福納西羅;A.特雷爾施;R.雅恩斯
• 申請（專利權(quán)）人: 德爾格制造股份兩合公司
• 主分類號: G01N21/3504
• 分類號: G01N21/3504;G01J3/45;G01J3/36;G01J3/10;G01J3/26;G01J3/42
• 代理公司: 72001 中國專利代理(香港)有限公司
• 代理人: 吳晟;劉春元

1.一種用于分析測量氣體的在氣體分析系統(tǒng)(1，1')中的信號檢測的方法，所述氣體分析系統(tǒng)

具有輻射源(3)，其在第一波長范圍中發(fā)射電磁輻射，

具有氣體測量段(9)，在所述氣體測量段中包含測量氣體，其中所述氣體測量段(9)如此相對于輻射源(3)布置，使得從所述輻射源(3)發(fā)射的輻射穿過氣體測量段(9)，

具有法布里-珀羅干涉儀(13)，其具有彼此平行布置的第一和第二部分透明的鏡子，和用于改變鏡子之間的距離的裝置(16)，其中所述法布里-珀羅干涉儀(13)如此布置，使得來自所述輻射源(3)的穿過所述氣體測量段(9)的輻射落在所述法布里-珀羅干涉儀(13)的第一鏡子上，

具有熱傳感器(17)，其中所述熱傳感器(17)被設(shè)計成，使得落在其上的電磁輻射造成其上設(shè)置的電極之間的電壓的改變，并且如此布置，使得通過所述法布里-珀羅干涉儀(13)的第二鏡子離開的輻射落在所述熱傳感器(17)上，

其中所述方法包括，

用來自所述輻射源(3)的輻射照射所述氣體測量段(9)，

彼此以不變的時間上的距離產(chǎn)生時間信號脈沖，

在產(chǎn)生時間信號脈沖期間所述法布里-珀羅干涉儀(13)的鏡子的距離持續(xù)地放大或減小，

在產(chǎn)生給定數(shù)量的時間信號脈沖之后，檢測所述熱傳感器(17)的電極之間產(chǎn)生的電壓并且作為測量信號值存儲，以及

在再次產(chǎn)生給定數(shù)量的時間信號脈沖之后，再次檢測在所述熱傳感器(17)的電極之間產(chǎn)生的電壓并且作為測量信號值存儲。

2.如權(quán)利要求1所述的方法，其中所述法布里-珀羅干涉儀(13)的第一和第二鏡子之間的距離取決于在用于調(diào)節(jié)距離的裝置(16)上施加的電壓，以及

其中用于持續(xù)地放大或減小距離的電壓持續(xù)地提高或持續(xù)地降低。

3.如權(quán)利要求1所述的方法，其中產(chǎn)生所述時間信號脈沖，其方式為所述輻射源的強度以不變的頻率變化。

4.如權(quán)利要求1到3中任一項所述的方法，其中所述熱傳感器(17)是具有晶體的焦熱電傳感器，在所述晶體上設(shè)置兩個電極，以及

其中在檢測電壓和作為測量信號值的存儲之后接下來進行信號電壓到限定的輸出水平的電子復(fù)位，使得在時期之后在電極之間的電壓降低到這個水平。

5.如權(quán)利要求1到3中任一項所述的方法，其中所述輻射源(3)是紅外輻射源，其在3.5μm到12μm的波長范圍中發(fā)射電磁輻射。

6.如權(quán)利要求1到3中任一項所述的方法，其中設(shè)置第二輻射源(5)，其在氣體測量段(9)中在第二波長范圍中發(fā)射電磁輻射并且如此布置，使得由第二輻射源(5)發(fā)射的輻射穿過氣體測量段(9)并且落在所述法布里-珀羅干涉儀(13)的第一鏡子上，

其中第二波長范圍和第一波長范圍彼此不同，并且

其中第二輻射源(5)的強度以不變的頻率變化，以便產(chǎn)生時間信號脈沖。

7.如權(quán)利要求6所述的方法，其中所述第二輻射源(5)是發(fā)光二極管，其具有在2μm到6μm的波長范圍中的特征性的放射譜。

8.如權(quán)利要求7所述的方法，其中所述發(fā)光二極管具有準(zhǔn)直光學(xué)器件(7)。

9.如權(quán)利要求6所述的方法，其中所述法布里-珀羅干涉儀(13)構(gòu)造為雙頻帶-法布里-珀羅干涉儀，使得在鏡子彼此的給定距離的情況下來自第一波長范圍的在關(guān)于第一波長的第一波長區(qū)間中的輻射和來自第二波長范圍的在關(guān)于第二波長的第二波長區(qū)間中的輻射通過干涉儀(13)。

10.如權(quán)利要求6所述的方法，其中由所述第二輻射源(5)發(fā)射的輻射在通過法布里-珀羅干涉儀(13)之后撞擊到所述熱傳感器(17)上。