[發(fā)明專利]粒子輻照試樣電導率和電阻率的測試方法有效
| 申請?zhí)枺?/td> | 201610847441.4 | 申請日： | 2016-09-23 |
| 公開（公告）號： | CN106483380B | 公開（公告）日： | 2017-11-17 |
| 發(fā)明（設(shè)計）人： | 李承亮;束國剛;陳駿;劉飛華;段遠剛 | 申請（專利權(quán)）人： | 中廣核工程有限公司;中國廣核集團有限公司 |
| 主分類號： | G01R27/02 | 分類號： | G01R27/02 |
| 代理公司： | 廣州三環(huán)專利商標代理有限公司44202 | 代理人： | 王基才 |
| 地址： | 518124 廣東省深圳市大*** | 國省代碼： | 廣東;44 |
| 權(quán)利要求書： | 查看更多 | 說明書： | 查看更多 |
| 摘要： | |||
| 搜索關(guān)鍵詞： | 粒子 輻照 試樣 電導率 電阻率 測試 方法 | ||
1.一種粒子輻照試樣電導率的測試方法，其特征在于，包括以下步驟：
1)提供粒子輻照試樣，粒子輻照試樣包括已經(jīng)受輻照的輻照層和未經(jīng)輻照的基體層；
2)將粒子輻照試樣的輻照層固定于絕緣基座中；
3)自粒子輻照試樣的基體層一側(cè)開始逐層打磨去除基體層，直至僅保留粒子輻照試樣的輻照層；以及
4)測試輻照層的電導率，獲得粒子輻照試樣的電導率。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的測試方法，其特征在于，步驟2)中，所述絕緣基座為環(huán)氧樹脂基座，所述粒子輻照試樣的輻照層通過低溫熔融固定于環(huán)氧樹脂基座上。
3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的測試方法，其特征在于，步驟2)中，所述環(huán)氧樹脂含有磷苯二甲酸二丁脂和雙酚A型環(huán)樹脂。
4.根據(jù)權(quán)利要求2所述的測試方法，其特征在于，步驟2)中，所述環(huán)氧樹脂在不超過300℃的溫度下融化。
5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的測試方法，其特征在于，步驟3)中，打磨去除基體層時，逐漸更換高目數(shù)的砂紙并采用精細打磨方式打磨。
6.根據(jù)權(quán)利要求1所述的測試方法，其特征在于，步驟3)中，打磨至接近輻照層時，更換的砂紙為至少1000目。
7.根據(jù)權(quán)利要求1所述的測試方法，其特征在于，步驟4)中，通過四引線法測試粒子輻照試樣的電導率。
8.根據(jù)權(quán)利要求1至7中任一項所述的測試方法，其特征在于，所述粒子輻照試樣為離子輻照試樣或質(zhì)子輻照試樣。
9.一種粒子輻照試樣電阻率的測試方法，其特征在于，在權(quán)利要求8所述的測試方法的步驟4)之后，將獲得的電導率的倒數(shù)作為粒子輻照試樣的電阻率。
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