[發明專利]基于k_tSL中心聚類算法的工業元件表面缺陷檢測方法有效
| 申請號： | 201610839951.7 | 申請日： | 2016-09-21 |
| 公開（公告）號： | CN106373123B | 公開（公告）日： | 2019-01-08 |
| 發明（設計）人： | 林偉陽;李湛;梅江元;高會軍;靳萬鑫;于金泳;楊憲強;孫光輝 | 申請（專利權）人： | 哈爾濱工業大學 |
| 主分類號： | G06T7/00 | 分類號： | G06T7/00;G06T7/13 |
| 代理公司： | 哈爾濱市松花江專利商標事務所 23109 | 代理人： | 岳昕 |
| 地址： | 150001 黑龍*** | 國省代碼： | 黑龍江;23 |
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| 摘要： | |||
| 搜索關鍵詞： | 基于 k_tsl 中心 算法 工業 元件 表面 缺陷 檢測 方法 | ||
【權利要求書】：
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