[發明專利]半導體器件的測試優化方法和系統及建模優化方法和系統有效
| 申請號： | 201610835616.X | 申請日： | 2016-09-20 |
| 公開（公告）號： | CN106503293B | 公開（公告）日： | 2018-11-09 |
| 發明（設計）人： | 劉林林;郭奧;王全;周偉 | 申請（專利權）人： | 上海集成電路研發中心有限公司;成都微光集電科技有限公司 |
| 主分類號： | G06F17/50 | 分類號： | G06F17/50 |
| 代理公司： | 上海天辰知識產權代理事務所(特殊普通合伙) 31275 | 代理人： | 吳世華;陳慧弘 |
| 地址： | 201210 上海市*** | 國省代碼： | 上海;31 |
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| 摘要： | |||
| 搜索關鍵詞： | 半導體器件 測試 優化 方法 系統 建模 | ||
【說明書】：
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