[發明專利]串聯質譜分析數據處理裝置

有效

• 申請號: 201610835168.3
• 申請日: 2014-01-20
• 公開（公告）號: CN106935477B
• 公開（公告）日: 2018-09-25
• 發明（設計）人: 山口真一
• 申請（專利權）人: 株式會社島津制作所
• 主分類號: H01J49/00
• 分類號: H01J49/00
• 代理公司: 上海華誠知識產權代理有限公司 31300
• 代理人: 肖華

本發明從由來源于多種化合物的產物離子混存的MS/MS譜中獲取與該化合物分別對應的MS/MS譜，并鑒定這些化合物。根據實測質譜上的前體離子的m/z值來推斷各自的組成式(S11)，根據實測MS/MS譜上的產物離子的m/z值來推斷各自的組成式(S12)。針對每個產物離子波峰，驗證其組成式與多種前體離子的組成式的一致性，由此確定波峰的歸屬(S13?S14)，根據該歸屬結果將MS/MS譜數據加以分離并制作每種前體離子的MS/MS譜(S15?S16)。

本申請為下述申請的分案申請，

原申請的申請日(國際申請日)：2014年1月20日，

原申請的申請號：201480073586.2(國際申請號：PCT/JP2014/050947)

原申請的發明名稱：串聯質譜分析數據處理裝置。

技術領域

本發明涉及一種對由串聯質譜分析裝置采集的數據進行處理的數據處理裝置，所述串聯質譜分析裝置可使離子裂解，并對由此生成的離子進行質譜分析。

背景技術

作為質譜分析的一種方法，已知有被稱為串聯分析或MSⁿ分析的方法。串聯分析為如下分析方法，即，首先在由試樣中的化合物生成的各種離子中選擇作為目標的具有特定質荷比的離子，通過碰撞誘導解離(CID＝Collision-Induced Dissociation)等解離操作來使該離子(通常稱為前體離子)裂解，并對由此生成的離子(通常稱為產物離子)進行質譜分析，該分析方法主要用于進行分子量較大的物質的鑒定、其結構的解析，近年來得到廣泛利用。此外，對于某些化合物而言，1次解離操作不會裂解至足夠小的片段，因此也存在將前體離子的選擇和針對該前體離子的解離操作反復多次(也就是說進行n為3以上的MSⁿ分析)的情況。

作為用以進行串聯分析的質譜分析裝置，例如，已知有隔著碰撞池在其前后配置有四極桿濾質器的三重四極桿質譜分析裝置(也稱為串聯四極桿質譜分析裝置等)、在三重四極桿質譜分析裝置中使用飛行時間質譜儀代替后級四極桿濾質器的Q-TOF質譜分析裝置等。在這些質譜分析裝置中，由于前體離子選擇和解離操作只能進行1次，因此最多只能進行MS²(＝MS/MS)分析。另一方面，在可反復多次執行離子的選擇和解離操作的使用離子阱的離子阱質譜分析裝置、將離子阱與飛行時間質譜分析裝置組合而成的離子阱飛行時間質譜分析裝置中，原理上可進行n的值的無限制的MSⁿ分析(但實際上因靈敏度的原因，n被限制在5左右)。

在利用這種串聯分析來鑒定試樣中的化合物時，通常是使來源于該化合物的具有特定質荷比的離子裂解，并對由此生成的產物離子進行質譜分析，由此獲取MS²譜。繼而，將該實測MS²譜的波峰圖案與化合物數據庫中所存儲的已知化合物的MS²譜進行對照來計算圖案的類似度，并參考該類似度來確定化合物。因此，要進行準確的化合物鑒定，重要的是在質譜中觀測到的波峰信息(主要是質荷比值)的精度要高。近年來，質譜分析裝置的性能的提高較為顯著，以往裝置在質譜上只能觀測到1條波峰，而在高質量分辨率的裝置中，往往能分離為多條波峰來加以觀測。隨著這種質量分辨率、質譜精度的改善，上述那樣的利用數據庫檢索的化合物的鑒定的可靠度也大幅提高。