[發(fā)明專利]一種半導(dǎo)體開關(guān)元器件的限流方法及設(shè)備有效
| 申請?zhí)枺?/td> | 201610831899.0 | 申請日: | 2016-09-19 |
| 公開(公告)號: | CN107846137B | 公開(公告)日: | 2020-04-03 |
| 發(fā)明(設(shè)計)人: | 楊建寧 | 申請(專利權(quán))人: | 維諦公司 |
| 主分類號: | H02M1/32 | 分類號: | H02M1/32;H02M1/08 |
| 代理公司: | 北京同達信恒知識產(chǎn)權(quán)代理有限公司 11291 | 代理人: | 黃志華 |
| 地址: | 美國俄亥俄州*** | 國省代碼: | 暫無信息 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 一種 半導(dǎo)體 開關(guān) 元器件 限流 方法 設(shè)備 | ||
1.一種半導(dǎo)體開關(guān)元器件的限流方法,其特征在于,所述方法包括:
針對任一開關(guān)周期,獲取用于反映流過半導(dǎo)體開關(guān)元器件的電流大小的檢測電壓;
將獲取到的檢測電壓與參考電平進行比較,并執(zhí)行以下操作:
若確定參考電平為第一設(shè)定電平,且檢測電壓小于所述第一設(shè)定電平,則保持向所述半導(dǎo)體開關(guān)元器件提供正常的驅(qū)動信號;
當(dāng)確定參考電平為第一設(shè)定電平,且檢測電壓不小于所述第一設(shè)定電平時,封鎖向所述半導(dǎo)體開關(guān)元器件提供的正常驅(qū)動信號,并設(shè)置參考電平為第二設(shè)定電平;
若確定參考電平為第二設(shè)定電平,且檢測電壓不小于所述第二設(shè)定電平,則保持封鎖提供給所述半導(dǎo)體開關(guān)元器件的正常驅(qū)動信號;
當(dāng)確定參考電平為第二設(shè)定電平,且檢測電壓小于所述第二設(shè)定電平時,向所述半導(dǎo)體開關(guān)元器件提供正常的驅(qū)動信號,且設(shè)置參考電平為第一設(shè)定電平;
其中,所述第一設(shè)定電平小于所述第二設(shè)定電平。
2.如權(quán)利要求1所述的方法,其特征在于,
所述設(shè)置參考電平為第一設(shè)定電平,包括控制數(shù)字信號處理器輸出頻率為第一設(shè)定頻率、幅值為第一設(shè)定幅值、占空比為第一設(shè)定占空比的第一方波信號;
所述設(shè)置參考電平為第二設(shè)定電平,包括控制數(shù)字信號處理器輸出頻率為第二設(shè)定頻率、幅值為第二設(shè)定幅值、占空比為第二設(shè)定占空比的第二方波信號;
其中,所述數(shù)字信號處理器的輸出信號經(jīng)過濾波后所得到電平信號為參考電平。
3.如權(quán)利要求1所述的方法,其特征在于,所述方法還包括:
確定所述半導(dǎo)體開關(guān)元器件的初始的參考電平為第一設(shè)定電平。
4.如權(quán)利要求1所述的方法,其特征在于,
所述第二設(shè)定電平等于所述半導(dǎo)體開關(guān)元器件的規(guī)格要求的最大電流與設(shè)定的電阻阻值的乘積;
所述第一設(shè)定電平等于所述第二設(shè)定電平與第一設(shè)定電壓值的差值。
5.如權(quán)利要求1所述的方法,其特征在于,所述方法還包括:
獲取所述半導(dǎo)體開關(guān)元器件的直流端電壓;
若確定在設(shè)定的時間內(nèi)所述直流端電壓的減小值不小于第二設(shè)定電壓值,則將所述第一設(shè)定電平與第三設(shè)定電壓值的差值確定為新的第一設(shè)定電平,和/或?qū)⑺龅诙O(shè)定電平與第四設(shè)定電壓值的差值確定為新的第二設(shè)定電平。
6.一種半導(dǎo)體開關(guān)元器件的限流設(shè)備,其特征在于,所述設(shè)備包括:
檢測單元,用于針對任一開關(guān)周期,獲取用于反映流過半導(dǎo)體開關(guān)元器件的電流大小的檢測電壓;
控制單元,用于將獲取到的檢測電壓與參考電平進行比較,并執(zhí)行以下操作:
若確定參考電平為第一設(shè)定電平,且檢測電壓小于所述第一設(shè)定電平,則保持向所述半導(dǎo)體開關(guān)元器件提供正常的驅(qū)動信號;
當(dāng)確定參考電平為第一設(shè)定電平,且檢測電壓不小于所述第一設(shè)定電平時,封鎖向所述半導(dǎo)體開關(guān)元器件提供的正常驅(qū)動信號,并設(shè)置參考電平為第二設(shè)定電平;
若確定參考電平為第二設(shè)定電平,且檢測電壓不小于所述第二設(shè)定電平,則保持封鎖提供給所述半導(dǎo)體開關(guān)元器件的正常驅(qū)動信號;
當(dāng)確定參考電平為第二設(shè)定電平,且檢測電壓小于所述第二設(shè)定電平時,向所述半導(dǎo)體開關(guān)元器件提供正常的驅(qū)動信號,且設(shè)置參考電平為第一設(shè)定電平;
其中,所述第一設(shè)定電平小于所述第二設(shè)定電平。
7.如權(quán)利要求6所述的設(shè)備,其特征在于,
所述控制單元,用于通過以下方式設(shè)置參考電平為第一設(shè)定電平:控制數(shù)字信號處理器輸出頻率為第一設(shè)定頻率、幅值為第一設(shè)定幅值、占空比為第一設(shè)定占空比的第一方波信號;
所述控制單元,還用于通過以下方式設(shè)置參考電平為第二設(shè)定電平:控制數(shù)字信號處理器輸出頻率為第二設(shè)定頻率、幅值為第二設(shè)定幅值、占空比為第二設(shè)定占空比的第二方波信號;
其中,所述數(shù)字信號處理器的輸出信號經(jīng)過濾波后所得到電平信號為參考電平。
8.如權(quán)利要求6所述的設(shè)備,其特征在于,
所述控制單元,還用于確定所述半導(dǎo)體開關(guān)元器件的初始的參考電平為第一設(shè)定電平。
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