[發(fā)明專利]一種化學鍍制備ULSI-Cu布線擴散阻擋層NiCoB薄膜的方法有效
| 申請?zhí)枺?/td> | 201610827712.X | 申請日: | 2016-09-18 |
| 公開(公告)號: | CN107104076B | 公開(公告)日: | 2019-02-05 |
| 發(fā)明(設計)人: | 陳秀華;王月春;馬文會 | 申請(專利權)人: | 云南大學 |
| 主分類號: | H01L21/768 | 分類號: | H01L21/768 |
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| 地址: | 650091 云*** | 國省代碼: | 云南;53 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 一種 化學 制備 ulsi cu 布線 擴散 阻擋 nicob 薄膜 方法 | ||
1.一種化學鍍制備NiCoB薄膜的方法,其特征在于:化學鍍制備NiCoB薄膜作為銅互連的擴散阻擋層,以DMAB為還原劑,二水合檸檬酸三鈉和四水合酒石酸鉀鈉為絡合劑,六水硫酸鎳和七水硫酸鈷為主鹽,三水合乙酸鈉為pH緩沖劑,氟化銨為加速劑,化學鍍制NiCoB/Cu/NiCoB/SiO2/Si樣品并進行退火實驗。
2.按照權利要求1所述的方法,其特征在于:在化學鍍制備NiCoB薄膜之前首先對單晶硅基體進行預處理,其方法依次包括如下步驟:
清洗:將裁切好的單晶硅片放在無水乙醇中超聲清洗20min;
粗化:將清洗后的單晶硅片在粗化液中超聲20min,所述粗化液為4% H2SO4和5% H2O2的混合溶液;
敏化:將粗化后的單晶硅片在敏化液中靜置5min,所述敏化液為20g/l SnCl2和40ml/lHCl的混合溶液;
活化:將敏化后的單晶硅片放在活化液中超聲20min;
解膠:最后將單晶硅片在10% HCl溶液中45℃水浴加熱條件下解膠40s。
3.按照權利要求1所述的方法,其特征在于:化學鍍制備NiCoB薄膜的溶液配方為:
絡合劑:Na3C6H5O7·2H2O:41.174g/L,C4O6H4KNa·4H2O:14.1115g/L;
主鹽:NiSO4·6H2O:28.914g/L,CoSO4·7H2O:8.433g/L;
還原劑:DMAB:2.3568g/L;
加速劑:NH4F:1g/L;
pH緩沖劑:CH3COONa·3H2O:15g/L。
4.按照權利要求1所述的方法,其特征在于:化學鍍制備NiCoB薄膜的實驗條件為:
溫度:80℃,pH:11.5。
5.按照權利要求1所述的方法,其特征在于:化學鍍制備Cu薄膜的溶液配方為:
主鹽:CuSO4·2H2O:20g/L;
絡合劑:EDTA-2Na:39g/L;
還原劑:CHOCOOH·H2O:13.8g/L;
加速劑:C6H8O7·H2O:21g/L;
穩(wěn)定劑:2,2’-聯(lián)吡啶:10mg/L。
6.按照權利要求1所述的方法,其特征在于:化學鍍制備Cu薄膜的實驗條件為:
溫度:77.5℃,pH:12.5,攪拌:30r/min。
7.按照權利要求1所述的方法,其特征在于:化學鍍制備NiCoB/Cu/NiCoB/SiO2/Si樣品的退火條件為氬氣。
8.按照權利要求1所述的方法,其特征在于:化學鍍制備NiCoB/Cu/NiCoB/SiO2/Si樣品的退火溫度分別為:500℃,600℃,700℃,750℃,800℃,850℃。
9.按照權利要求1所述的方法,其特征在于:鍍液中加入氟化銨后,沉積時間為5min即可得到40nm厚的均勻鍍層。
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H01L 半導體器件;其他類目中不包括的電固體器件
H01L21-00 專門適用于制造或處理半導體或固體器件或其部件的方法或設備
H01L21-02 .半導體器件或其部件的制造或處理
H01L21-64 .非專門適用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各組的單個器件所使用的除半導體器件之外的固體器件或其部件的制造或處理
H01L21-66 .在制造或處理過程中的測試或測量
H01L21-67 .專門適用于在制造或處理過程中處理半導體或電固體器件的裝置;專門適合于在半導體或電固體器件或部件的制造或處理過程中處理晶片的裝置
H01L21-70 .由在一共用基片內(nèi)或其上形成的多個固態(tài)組件或集成電路組成的器件或其部件的制造或處理;集成電路器件或其特殊部件的制造





