[發明專利]一種光束的雙關聯函數的測量方法

有效

• 申請號: 201610823559.3
• 申請日: 2016-09-14
• 公開（公告）號: CN106644059B
• 公開（公告）日: 2018-07-31
• 發明（設計）人: 劉顯龍;劉琳;蔡陽健
• 申請（專利權）人: 蘇州大學
• 主分類號: G01J1/42
• 分類號: G01J1/42
• 代理公司: 蘇州創元專利商標事務所有限公司 32103
• 代理人: 陶海鋒

1.一種測量光束的雙關聯函數的方法，其特征在于包括如下步驟：

（1）以連續拍攝的采集方法，得到N幅待測量光的光強度分布的灰度信息圖片；將圖片逐一轉化為相應的維度為4m+1×4m+1的二維方陣矩陣I_n(x, y) ；其中，m為大于等于零的正整數；n表示圖像的序列號，從1～N；(x, y)為矩陣的坐標；

（2）將矩陣I_n(x, y)的中心點(2m+1, 2m+1)設置為坐標原點(0, 0)；

（3）選取矩陣I_n(x, y)的第m+1到3m+1行，第m+1到3m+1列為新的2m+1×2m+1維度的子矩陣I_t(x, y)，t表示與N對應的圖像的序列號；

（4）選取矩陣I_n的奇數行與奇數列處的數值為新的2m+1×2m+1維度的子矩陣I_t(2x,2y)，t表示與N對應的圖像的序列號；

（5）對子矩陣I_t(x, y)和I_t(2x, 2y)進行關聯運算，得到待測量光雙關聯函數的分布；利用雙關聯函數的二維分布，其中暗環數量即對應為待測量光的徑向模數。

2.根據權利要求1所述的測量光束的雙關聯函數的方法，其特征在于：采集方法為由16位灰度的電荷耦合器件以30幀/秒的速率拍攝。

3.根據權利要求1所述的測量光束的雙關聯函數的方法，其特征在于： N = 200～20000。

4.根據權利要求1所述的測量光束的雙關聯函數的方法，其特征在于：m大于等于10。