[發(fā)明專利]一種小尺寸構(gòu)件表層微觀裂紋的無損檢測系統(tǒng)及方法在審
| 申請?zhí)枺?/td> | 201610819486.0 | 申請日： | 2016-09-13 |
| 公開（公告）號： | CN106198383A | 公開（公告）日： | 2016-12-07 |
| 發(fā)明（設(shè)計）人： | 顧邦平;胡雄;孫士斌;嚴(yán)小蘭;周慧;張明月;孫慧;賴金濤;金子迪 | 申請（專利權(quán)）人： | 上海海事大學(xué) |
| 主分類號： | G01N19/08 | 分類號： | G01N19/08 |
| 代理公司： | 暫無信息 | 代理人： | 暫無信息 |
| 地址： | 201306 上海市浦*** | 國省代碼： | 上海;31 |
| 權(quán)利要求書： | 查看更多 | 說明書： | 查看更多 |
| 摘要： | |||
| 搜索關(guān)鍵詞： | 一種 尺寸 構(gòu)件 表層 微觀 裂紋 無損 檢測 系統(tǒng) 方法 | ||
【說明書】：
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