[發(fā)明專(zhuān)利]一種混合X射線熒光CT與X射線聲波CT的成像方法及系統(tǒng)在審
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 201610814913.6 | 申請(qǐng)日： | 2016-09-09 |
| 公開(kāi)（公告）號(hào)： | CN106248705A | 公開(kāi)（公告）日： | 2016-12-21 |
| 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人： | 馮鵬;鄧露珍;蔣上海;何鵬;魏彪 | 申請(qǐng)（專(zhuān)利權(quán)）人： | 重慶大學(xué) |
| 主分類(lèi)號(hào)： | G01N23/22 | 分類(lèi)號(hào)： | G01N23/22;G01N23/223 |
| 代理公司： | 重慶華科專(zhuān)利事務(wù)所50123 | 代理人： | 康海燕 |
| 地址： | 400030 *** | 國(guó)省代碼： | 重慶;85 |
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| 摘要： | |||
| 搜索關(guān)鍵詞： | 一種 混合 射線 熒光 ct 聲波 成像 方法 系統(tǒng) | ||
【權(quán)利要求書(shū)】：
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- 同類(lèi)專(zhuān)利
- 專(zhuān)利分類(lèi)
G01 測(cè)量；測(cè)試
G01N 借助于測(cè)定材料的化學(xué)或物理性質(zhì)來(lái)測(cè)試或分析材料
G01N23-00 利用未包括在G01N 21/00或G01N 22/00組內(nèi)的波或粒子輻射來(lái)測(cè)試或分析材料，例如X射線、中子
G01N23-02 .通過(guò)使輻射透過(guò)材料
G01N23-20 .利用輻射的衍射，例如，用于測(cè)試晶體結(jié)構(gòu)；利用輻射的反射
G01N23-22 .通過(guò)測(cè)量二次發(fā)射
G01N23-221 ..利用活化分析法
G01N23-223 ..通過(guò)用X射線輻照樣品以及測(cè)量X射線熒光
G01N 借助于測(cè)定材料的化學(xué)或物理性質(zhì)來(lái)測(cè)試或分析材料
G01N23-00 利用未包括在G01N 21/00或G01N 22/00組內(nèi)的波或粒子輻射來(lái)測(cè)試或分析材料，例如X射線、中子
G01N23-02 .通過(guò)使輻射透過(guò)材料
G01N23-20 .利用輻射的衍射，例如，用于測(cè)試晶體結(jié)構(gòu)；利用輻射的反射
G01N23-22 .通過(guò)測(cè)量二次發(fā)射
G01N23-221 ..利用活化分析法
G01N23-223 ..通過(guò)用X射線輻照樣品以及測(cè)量X射線熒光
