[發(fā)明專利]基于全反射X射線熒光分析的元素檢測方法有效
| 申請?zhí)枺?/td> | 201610814665.5 | 申請日： | 2016-09-09 |
| 公開（公告）號： | CN106248710B | 公開（公告）日： | 2019-02-26 |
| 發(fā)明（設(shè)計）人： | 石平;徐劍飛 | 申請（專利權(quán)）人： | 廣州市怡文環(huán)境科技股份有限公司 |
| 主分類號： | G01N23/223 | 分類號： | G01N23/223 |
| 代理公司： | 廣州華進聯(lián)合專利商標(biāo)代理有限公司 44224 | 代理人： | 萬志香 |
| 地址： | 510730 廣東省*** | 國省代碼： | 廣東;44 |
| 權(quán)利要求書： | 查看更多 | 說明書： | 查看更多 |
| 摘要： | |||
| 搜索關(guān)鍵詞： | 基于 全反射 射線 熒光 分析 元素 檢測 方法 | ||
【權(quán)利要求書】：
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