[發明專利]通過溶液折射率測量提高溶液濃度檢測靈敏度的檢測裝置有效
| 申請號: | 201610810413.5 | 申請日: | 2016-09-08 |
| 公開(公告)號: | CN107796731B | 公開(公告)日: | 2020-02-07 |
| 發明(設計)人: | 黃新杰;黃成宇;王舜;鄧舜文 | 申請(專利權)人: | 浚洸光學科技股份有限公司 |
| 主分類號: | G01N9/24 | 分類號: | G01N9/24 |
| 代理公司: | 72003 隆天知識產權代理有限公司 | 代理人: | 李昕巍;鄭特強 |
| 地址: | 中國臺*** | 國省代碼: | 中國臺灣;71 |
| 權利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 液體 濃度 檢測 裝置 | ||
1.一種通過溶液折射率測量提高溶液濃度檢測靈敏度的檢測裝置,其特征在于,包括:
一外殼體,形成一密閉的容置空間于其內部,所述外殼體向內凹陷地形成一檢測部以供容納待測液體,其中所述檢測部包括一第一透波板、一第二透波板、及一連接所述第一透波板與所述第二透波板的連接板;
一折反射結構,收容于所述外殼體內,所述折反射結構包括一入波部、一第一全反射部、一第二全反射部、一折射缺口及一出波部;其中所述入波部與所述第一全反射部之間形成一容置區,所述容置區的外形相對應于所述檢測部,所述檢測部置于所述容置區內;所述出波部具有一出波面;所述折射缺口形成于所述第一全反射部與所述第二全反射部之間,所述第一全反射部包括一第一出射面;所述第二全反射部包括一第二入射面,所述第一出射面與所述第二入射面呈非平行共同界定出所述折射缺口;
一電磁波發射件,置于所述入波部的一側,發出的電磁波依序經過所述入波部、所述檢測部與所述待測液體、所述第一全反射部,然后被全反射至所述第二全反射部,再被全反射而經過所述出波部;
一感應接收件,置于所述出波部的一側,以接收由所述出波部出來的電磁波;所述出波面面對所述感應接收件;
一電路板,所述電磁波發射件與所述感應接收件置于所述電路板的同一平面;
其中所述第一透波板沿著所述電路板且平行地抵接于所述入波部的一表面,所述第二透波板傾斜于所述電路板,所述第一透波板與所述第二透波板之間形成一銳角的夾角;
所述電磁波由所述入波部經過所述外殼體的所述第一透波板,進入所述待測液體,所述電磁波再經過所述外殼體的所述第二透波板,然后進入所述折反射結構的所述第一全反射部,經過偏折后,被所述第一全反射面全反射,然后進入所述折射缺口,所述折射缺口將所述電磁波兩次偏折,接著,所述電磁波進入所述折反射結構的所述第二全反射部,所述電磁波第四次偏折后,經過所述出波部的所述出波面,由所述感應接收件接收。
2.如權利要求1所述的通過溶液折射率測量提高溶液濃度檢測靈敏度的檢測裝置,其特征在于,還包括一遮波罩,所述遮波罩置于所述電磁波發射件及所述入波部之間。
3.如權利要求1所述的通過溶液折射率測量提高溶液濃度檢測靈敏度的檢測裝置,其特征在于,所述檢測部呈溝渠狀并且平行于重力方向,所述檢測部的兩端呈開放狀。
4.如權利要求1所述的通過溶液折射率測量提高溶液濃度檢測靈敏度的檢測裝置,其特征在于,所述第一全反射部具有一抵接于所述第二透波板的第一入射面及一第一全反射面,所述第一入射面與所述第一全反射面呈一銳角的夾角。
5.如權利要求1所述的通過溶液折射率測量提高溶液濃度檢測靈敏度的檢測裝置,其特征在于,所述第二全反射部還具有一第二全反射面,所述第二全反射面呈平面或自由曲面。
6.如權利要求1所述的通過溶液折射率測量提高溶液濃度檢測靈敏度的檢測裝置,其特征在于,所述第二全反射部具有一上邊界反射區、一主反射區與一下邊界反射區,其中所述主反射區位于所述上邊界反射區與所述下邊界反射區之間,所述上邊界反射區用以將所接收到電磁波反射至所述感應接收件的第一區,所述主反射區用以將所接收到電磁波反射至所述感應接收件的第二區,所述下邊界反射區用以將所接收到電磁波反射至所述感應接收件的第三區,其中所述第二區位于所述第一區與所述第三區之間。
7.如權利要求6所述的通過溶液折射率測量提高溶液濃度檢測靈敏度的檢測裝置,其特征在于,所述主反射區的反射斜率小于所述上邊界反射區的反射斜率,所述下邊界反射區的反射斜率小于所述主反射區的反射斜率。
8.如權利要求1所述的通過溶液折射率測量提高溶液濃度檢測靈敏度的檢測裝置,其特征在于,所述第二全反射部有一第二全反射面,所述第二全反射面具有第一反射曲面、第二反射曲面及第三反射曲面,每一反射曲面兩端的假想平面分別與一垂直于所述出波面的假想垂直線的形成第一夾角、第二夾角、第三夾角;其中所述第一夾角<所述第二夾角<所述第三夾角。
9.如權利要求8所述的通過溶液折射率測量提高溶液濃度檢測靈敏度的檢測裝置,其特征在于,多個所述反射曲面均呈外突的弧面狀,而形成自由曲面,所述自由曲面進一步提供聚光的作用。
該專利技術資料僅供研究查看技術是否侵權等信息,商用須獲得專利權人授權。該專利全部權利屬于浚洸光學科技股份有限公司,未經浚洸光學科技股份有限公司許可,擅自商用是侵權行為。如果您想購買此專利、獲得商業授權和技術合作,請聯系【客服】
本文鏈接:http://www.szxzyx.cn/pat/books/201610810413.5/1.html,轉載請聲明來源鉆瓜專利網。





