[發明專利]一種液晶顯示屏測試裝置在審
| 申請號: | 201610805199.4 | 申請日: | 2016-08-31 |
| 公開(公告)號: | CN107784966A | 公開(公告)日: | 2018-03-09 |
| 發明(設計)人: | 肖亮燦 | 申請(專利權)人: | 天津盛諾電子科技有限公司 |
| 主分類號: | G09G3/00 | 分類號: | G09G3/00 |
| 代理公司: | 暫無信息 | 代理人: | 暫無信息 |
| 地址: | 301700 天津*** | 國省代碼: | 天津;12 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 一種 液晶顯示屏 測試 裝置 | ||
技術領域
本發明涉及液晶顯示屏測試領域,特別涉及一種液晶顯示屏測試裝置。
背景技術
現有的液晶顯示屏測試機往往僅是測量顯示屏的圖像質量(顯示效果)的數據,并沒有監測顯示屏的電性參數。但是,作為一種電子模組,電性參數是很重要的一部分。因為微短路或其它設計缺陷造成的電性參數異常但顯示效果在正常范圍內的情況并不少見。如果注重產品電參數的監測,勢必容易把不良品流出到客戶,造成不可預估的隱患。
發明內容
本發明的目的在于提供一種液晶顯示屏測試裝置,能夠對顯示屏的電參數進行精確控制和監測,以保證產品之高品質。
本發明提供了一種液晶顯示屏測試裝置,包括電源供給模塊、程序主控模塊、測量數據采集模塊、待測量液晶顯示屏以及測量數據顯示監控屏,所述電源供給模塊用于將外部輸入的單一電源轉換成所述程序主控模塊、測量數據采集模塊、待測量液晶顯示屏及其背光以及測量數據顯示監控屏分別對應所需的不同工作電源,所述程序主控模塊將預存的測試圖片發送給所述待測量液晶顯示屏進行顯示,并根據預存的測試程序驅動所述待測量液晶顯示屏以進行對應的測試工作,所述測量數據采集模塊用于采集所述待測量液晶顯示屏在測試工作時的至少包括圖像質量和電性參數的測量數據,并將采集到的所述測量數據發送給所述測量數據顯示監控屏進行顯示。
作為上述技術方案的改進,所述待測量液晶顯示屏為單色LCD、TFT、CSTN、ZBD和BCD中的任意一種,所述待測量液晶顯示屏為電阻式或電容式觸摸屏。
作為上述技術方案的改進,所述電性參數至少包括所述待測量液晶顯示屏的工作電壓、待測量液晶顯示屏的工作電流、背光的工作電壓、背光的工作電流中的一種或多種。
本發明公開的多功能液晶顯示屏測試裝置具有如下有益效果:本發明實施例的液晶顯示屏測試裝置能夠對顯示屏的電性參數進行精確控制和監測,以保證產品之高品質;其中,所述電性參數至少包括所述待測量液晶顯示屏的工作電壓、待測量液晶顯示屏的工作電流、背光的工作電壓、背光的工作電流中的一種或多種。
具體實施方式
下面對本發明的較佳實施例進行詳細闡述,以使本發明的優點和特征能更易于被本領域技術人員理解,從而對本發明的保護范圍做出更為清楚明確的界定。
一種液晶顯示屏測試裝置,包括電源供給模塊、程序主控模塊、測量數據采集模塊、待測量液晶顯示屏以及測量數據顯示監控屏,所述電源供給模塊用于將外部輸入的單一電源轉換成所述程序主控模塊、測量數據采集模塊、待測量液晶顯示屏及其背光以及測量數據顯示監控屏分別對應所需的不同工作電源,所述程序主控模塊將預存的測試圖片發送給所述待測量液晶顯示屏進行顯示,并根據預存的測試程序驅動所述待測量液晶顯示屏以進行對應的測試工作,所述測量數據采集模塊用于采集所述待測量液晶顯示屏在測試工作時的至少包括圖像質量和電性參數的測量數據,并將采集到的所述測量數據發送給所述測量數據顯示監控屏進行顯示。
作為上述技術方案的改進,所述待測量液晶顯示屏為單色LCD、TFT、CSTN、ZBD和BCD中的任意一種,所述待測量液晶顯示屏為電阻式或電容式觸摸屏。
作為上述技術方案的改進,所述電性參數至少包括所述待測量液晶顯示屏的工作電壓、待測量液晶顯示屏的工作電流、背光的工作電壓、背光的工作電流中的一種或多種。
本發明公開的液晶顯示屏測試裝置具有如下有益效果:本發明實施例的液晶顯示屏測試裝置能夠對顯示屏的電性參數進行精確控制和監測,以保證產品之高品質;其中,所述電性參數至少包括所述待測量液晶顯示屏的工作電壓、待測量液晶顯示屏的工作電流、背光的工作電壓、背光的工作電流中的一種或多種。
以上所述僅是本發明的優選實施方式,應當指出,對于本技術領域的普通技術人員來說,在不脫離本發明原理的前提下,還可以做出若干改進和潤飾,這些改進和潤飾也應視為本發明的保護范圍。
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