[發明專利]一種脈沖渦流熱成像中缺陷的自動分割方法有效
| 申請號： | 201610804875.6 | 申請日： | 2016-09-06 |
| 公開（公告）號： | CN106468677B | 公開（公告）日： | 2018-11-09 |
| 發明（設計）人： | 高斌;李曉青;田貴云 | 申請（專利權）人： | 電子科技大學 |
| 主分類號： | G01N25/72 | 分類號： | G01N25/72;G06T7/136 |
| 代理公司： | 成都行之專利代理事務所(普通合伙) 51220 | 代理人： | 溫利平 |
| 地址： | 611731 四川省成*** | 國省代碼： | 四川;51 |
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| 摘要： | |||
| 搜索關鍵詞： | 熱成像 渦流脈沖 自動分割 直方圖 分組 像素 分割 圖像直方圖 定量檢測 分割圖像 脈沖渦流 缺陷區域 缺陷圖像 物理特性 末梢 多能量 像素點 映射 一階 去除 量化 輻射 | ||
1.一種渦流脈沖熱成像中缺陷的自動分割方法，包括：
(1)、基于獨立成分分解的熱圖序列預處理
通過渦流脈沖熱成像檢測系統，獲得含缺陷導體表面的空間-時間熱圖響應序列即熱圖序列，并對熱圖序列執行獨立成分分析，將具有最大峭度的獨立成分，按原熱圖尺寸重構成缺陷圖像矩陣，并以此缺陷圖像矩陣作為待分割圖像；
其特征在于，還包括以下步驟：
(2)、基于圖像一階統計特性的缺陷分割
2.1)、將待分割圖像的直方圖即包含缺陷的圖像直方圖平均地劃分為n組，n為分組數，n≥2，每一組的量級大小為：
其中，Vmax和Vmin是待分割圖像上的最大像素值和最小像素值，這樣，像素值Vi定義為如下等式：
Vi＝Vmin+i×ΔV,(i＝0,1,2...,n) (2)；
其中，每一組具體表示為：V0～V1,V1～V2,...,Vn-1～Vn，即：Vi～Vi+1，這樣得到各組的累計像素個數Si，以及每一組的像素平均值Wi：
其中，v為像素值，uv為像素值v下對應的像素個數；
2.2)、計算累計像素個數Si的一階導ki：
ki＝Si-Si-1,(i＝1,2,...,n.其中S0＝0) (4)；
這樣得到基于圖像統計直方圖的一階導曲線；
2.3)、尋找絕對值最大的一階導|ki|max，此時i為imax；
如果imax＝n，則將Wn作為分割閾值T，否則，作為分割閾值T，然后將小于分割閾值T的像素點去除，得到渦流脈沖熱成像中的缺陷圖像。
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