[發明專利]一種痕量分析方法及其前處理方法有效
| 申請號： | 201610796298.0 | 申請日： | 2016-08-31 |
| 公開（公告）號： | CN106404677B | 公開（公告）日： | 2019-10-25 |
| 發明（設計）人： | 刁克明 | 申請（專利權）人： | 北京埃德萬斯離子束技術研究所股份有限公司 |
| 主分類號： | G01N21/25 | 分類號： | G01N21/25 |
| 代理公司： | 北京眾達德權知識產權代理有限公司 11570 | 代理人： | 劉杰 |
| 地址： | 100071 *** | 國省代碼： | 北京;11 |
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| 摘要： | |||
| 搜索關鍵詞： | 一種 痕量 分析 方法 及其 處理 | ||
【權利要求書】：
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