[發(fā)明專利]一種集成電路測試方法有效
| 申請?zhí)枺?/td> | 201610789618.X | 申請日： | 2016-08-30 |
| 公開（公告）號： | CN106443410B | 公開（公告）日： | 2019-05-03 |
| 發(fā)明（設(shè)計）人： | 張為鳳 | 申請（專利權(quán)）人： | 廣西南寧市沃威機電設(shè)備有限公司 |
| 主分類號： | G01R31/28 | 分類號： | G01R31/28;H01L21/66 |
| 代理公司： | 北京科家知識產(chǎn)權(quán)代理事務(wù)所(普通合伙) 11427 | 代理人： | 陳娟 |
| 地址： | 530000 廣西壯族自治區(qū)南寧*** | 國省代碼： | 廣西;45 |
| 權(quán)利要求書： | 查看更多 | 說明書： | 查看更多 |
| 摘要： | |||
| 搜索關(guān)鍵詞： | 一種 集成電路 測試 方法 | ||
【說明書】：
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