[發明專利]一種級聯分布式AOI缺陷檢測系統及其檢測方法有效
| 申請號: | 201610787742.2 | 申請日: | 2016-08-31 |
| 公開(公告)號: | CN106323600B | 公開(公告)日: | 2020-04-24 |
| 發明(設計)人: | 張勝森;鄧標華;陳凱;沈亞非 | 申請(專利權)人: | 武漢精測電子集團股份有限公司 |
| 主分類號: | G01M11/02 | 分類號: | G01M11/02;G01N21/95 |
| 代理公司: | 武漢帥丞知識產權代理有限公司 42220 | 代理人: | 朱必武 |
| 地址: | 430070 湖北省武漢*** | 國省代碼: | 湖北;42 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 一種 級聯 分布式 aoi 缺陷 檢測 系統 及其 方法 | ||
1.一種級聯分布式AOI缺陷檢測系統,用于產線上LCD屏的缺陷檢測,其特征在于,所述檢測系統包括:按順序依次排列的多個檢測單元,與多個檢測單元相互連接且數據共享的數據同步單元,用于對被判定為不合格的LCD屏進行處理的第一結果處理單元以及用于對被判定為合格的LCD屏進行處理的第二結果處理單元;
所述多個檢測單元之間采取級聯分布式的方式,所述多個檢測單元的每一個檢測單元均為一個獨立的檢測單元,用于檢測所述LCD屏的不同的缺陷,每一個檢測單元獲取一個檢測結果,并將所述檢測結果傳送至數據同步單元;每個檢測單元配置為通過數據同步單元獲取其他檢測單元的檢測結果以作為參考;
所述多個檢測單元的每一個檢測單元配置為包括一個檢測結果判定模塊,用于判定所述LCD屏是否合格;所述檢測結果判定模塊配置為根據所述LCD屏是否合格,決定所述LCD屏是否提供給后續檢測單元進行檢測:合格則提供給后續檢測單元進行檢測,直至最后一個檢測單元檢測結束,將所述LCD屏提供給第二結果處理單元進行處理;不合格則將所述LCD屏提供給第一結果處理單元進行處理,檢測結束;
所述數據同步單元,用于接收所述多個檢測單元中的每一個得到的檢測結果,并配置為與所述多個檢測單元進行數據共享,以實現所述多個檢測單元之間的數據共享。
2.根據權利要求1所述的級聯分布式AOI缺陷檢測系統,其特征在于,所述多個檢測單元包括三個檢測單元,分別是:亮度缺陷檢測單元、顏色缺陷檢測單元和表面缺陷檢測單元,三者采用級聯的方式,亮度缺陷檢測單元檢測結果合格,則進入顏色缺陷檢測單元,顏色缺陷檢測單元的檢測結果合格,則進入表面缺陷檢測單元。
3.根據權利要求2所述的級聯分布式AOI缺陷檢測系統,其特征在于,所述亮度缺陷檢測單元采用工業相機,顏色缺陷檢測單元采用彩色相機,表面缺陷檢測單元采用線陣相機。
4.根據權利要求1所述的級聯分布式AOI缺陷檢測系統,其特征在于,所述數據同步單元采用LCD屏的設備ID作為Key進行數據的同步和共享。
5.根據權利要求1所述的級聯分布式AOI缺陷檢測系統,其特征在于,所述多個檢測單元的每一個檢測單元包括:
控制單元,用于實現相機組的運動及信號控制;
圖像處理單元,用于對拍攝得到的圖像進行處理,得到當前圖像下的缺陷;
FPGA單元,用于進行相機圖像的采集和傳輸,LCD屏圖像的顯示;
相機組,用于采集LCD屏的圖像,包含多種類型相機或者多個數目的相機。
6.根據權利要求5所述的級聯分布式AOI缺陷檢測系統,其特征在于,所述多個檢測單元的每一個檢測單元還包括光源組,用于輔助相機組進行補光拍攝。
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