[發(fā)明專利]一種主軸徑向跳動的測量方法

在審

• 申請?zhí)枺?/td>: 201610781465.4
• 申請日: 2016-08-31
• 公開（公告）號: CN107782238A
• 公開（公告）日: 2018-03-09
• 發(fā)明（設(shè)計）人: 呂術(shù)亮
• 申請（專利權(quán)）人: 鼎奇（天津）主軸科技有限公司
• 主分類號: G01B11/00
• 分類號: G01B11/00
• 代理公司: 暫無信息
• 代理人: 暫無信息

技術(shù)領(lǐng)域

本發(fā)明涉及主軸領(lǐng)域，尤其是涉及一種主軸徑向跳動的測量方法。

背景技術(shù)

目前，在衡量數(shù)控機(jī)床對零部件的加工質(zhì)量和效率時，可以通過測量數(shù)控機(jī)床的主軸徑向跳動，根據(jù)主軸徑向跳動的數(shù)據(jù)來說明數(shù)控機(jī)床對零部件的加工質(zhì)量和效率。

當(dāng)前，數(shù)控機(jī)床主軸徑向跳動是采用杠桿百分表或者千分表進(jìn)行測量的。百分表或千分表由表頭、傳動機(jī)構(gòu)以及杠桿等組成，在用百分表或千分表測量數(shù)控機(jī)床主軸徑向跳動時，將杠桿輕輕貼近檢測棒，利用杠桿-齒輪傳動機(jī)構(gòu)或者杠桿-螺旋傳動機(jī)構(gòu)，將尺寸的長度變換為指針角位移，并在表頭上指示出長度尺寸所表示數(shù)值的大小。

當(dāng)技術(shù)人員從百分表或千分表上讀取數(shù)控機(jī)床主軸徑向跳動的數(shù)值時，由于百分表或千分表的表盤-指針結(jié)構(gòu)，其讀數(shù)由于每個人觀察的視角不同會存在一定的差異，且需要技術(shù)人員手工記錄讀取的數(shù)據(jù)，如此，記錄的數(shù)據(jù)量有限，且數(shù)據(jù)存在一定誤差，從而根據(jù)記錄的數(shù)據(jù)確定數(shù)控機(jī)床主軸徑向跳動的數(shù)值的誤差較大，影響對數(shù)控機(jī)床性能的評價。

發(fā)明內(nèi)容

本發(fā)明提供一種主軸徑向跳動的測量方法。

為實(shí)現(xiàn)上述的發(fā)明目的，本發(fā)明采取的實(shí)施方式如下：

一種主軸徑向跳動的測量方法，包括以下步驟：

在主軸端部設(shè)置與主軸同心的跳動檢驗(yàn)觸體，在跳動檢驗(yàn)觸體的兩側(cè)分別設(shè)置有發(fā)光端和投影端，投影端連接處理器，所述的處理器連接有顯示器。

發(fā)光端發(fā)射光線，所述光線被跳動檢驗(yàn)觸體遮擋，遮擋后的陰影落入投影端。

處理器根據(jù)設(shè)定程序，計算投影的大小，轉(zhuǎn)換信號，在顯示器上顯示數(shù)值大小，根據(jù)數(shù)值的變化，可以精確看到跳動的大小。

進(jìn)一步，所述的跳動檢驗(yàn)觸體可以為長柱形。

進(jìn)一步，跳動檢驗(yàn)觸體的中心軸線與主軸軸線重合。

本發(fā)明的有益效果是：非接觸式測量，可根據(jù)投影端投影大小來計算跳動的大小，并能在顯示器上直觀顯示數(shù)值，精確可靠；可檢測高速運(yùn)轉(zhuǎn)情況下主軸的跳動情況，方便實(shí)用。

具體實(shí)施方式

以下結(jié)合實(shí)施例，對依據(jù)本發(fā)明提供的具體實(shí)施方式詳述如下：

實(shí)施例1

一種主軸徑向跳動的測量方法，包括以下步驟：

在主軸端部設(shè)置與主軸同心的跳動檢驗(yàn)觸體，在跳動檢驗(yàn)觸體的兩側(cè)分別設(shè)置有發(fā)光端和投影端，投影端連接處理器，所述的處理器連接有顯示器。

發(fā)光端發(fā)射光線，所述光線被跳動檢驗(yàn)觸體遮擋，遮擋后的陰影落入投影端。

處理器根據(jù)設(shè)定程序，計算投影的大小，轉(zhuǎn)換信號，在顯示器上顯示數(shù)值大小，根據(jù)數(shù)值的變化，可以精確看到跳動的大小。

進(jìn)一步，所述的跳動檢驗(yàn)觸體可以為長柱形。

進(jìn)一步，跳動檢驗(yàn)觸體的中心軸線與主軸軸線重合。

本發(fā)明的有益效果是：非接觸式測量，可根據(jù)投影端投影大小來計算跳動的大小，并能在顯示器上直觀顯示數(shù)值，精確可靠；可檢測高速運(yùn)轉(zhuǎn)情況下主軸的跳動情況，方便實(shí)用。。

以上對本發(fā)明的一個實(shí)施例進(jìn)行了詳細(xì)說明，但所述內(nèi)容僅為本發(fā)明的較佳實(shí)施例，不能被認(rèn)為用于限定本發(fā)明的實(shí)施范圍。凡依本發(fā)明申請范圍所作的均等變化與改進(jìn)等，均應(yīng)仍歸屬于本發(fā)明的專利涵蓋范圍之內(nèi)。