[發(fā)明專利]基于單端口校準(zhǔn)探針去嵌的片上天線增益測試方法及系統(tǒng)在審
| 申請?zhí)枺?/td> | 201610767631.5 | 申請日： | 2016-08-30 |
| 公開（公告）號： | CN106291132A | 公開（公告）日： | 2017-01-04 |
| 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人： | 趙銳;王亞海;杜劉革;常慶功;胡大海 | 申請（專利權(quán)）人： | 中國電子科技集團(tuán)公司第四十一研究所 |
| 主分類號： | G01R29/10 | 分類號： | G01R29/10 |
| 代理公司： | 濟(jì)南圣達(dá)知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限公司37221 | 代理人： | 張勇 |
| 地址： | 266555 山東省*** | 國省代碼： | 山東;37 |
| 權(quán)利要求書： | 查看更多 | 說明書： | 查看更多 |
| 摘要： | |||
| 搜索關(guān)鍵詞： | 基于 端口 校準(zhǔn) 探針 天線 增益 測試 方法 系統(tǒng) | ||
【權(quán)利要求書】：
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