[發明專利]在片散射參數的溯源及不確定度評估方法有效
| 申請號： | 201610763762.6 | 申請日： | 2016-08-30 |
| 公開（公告）號： | CN106405462B | 公開（公告）日： | 2019-03-22 |
| 發明（設計）人： | 欒鵬;王一幫;吳愛華;梁法國;孫靜;劉晨;孫曉穎;韓志國;丁立強;張立飛 | 申請（專利權）人： | 中國電子科技集團公司第十三研究所 |
| 主分類號： | G01R35/00 | 分類號： | G01R35/00 |
| 代理公司： | 石家莊國為知識產權事務所 13120 | 代理人： | 申超平 |
| 地址： | 050051 *** | 國省代碼： | 河北;13 |
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| 摘要： | |||
| 搜索關鍵詞： | 散射 參數 溯源 不確定 評估 方法 | ||
【權利要求書】：
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